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QNix4500鍍層測厚儀

4500鍍層測厚儀

品牌：德國尼克斯

型號：QNix4500

QNix4500涂鍍層測厚儀，我公司大量現貨供應，提供送貨上門服務，可開具增值稅專用發票；產品保證為原廠原裝，假一罰十萬現金；歡迎來電咨詢我們，謝謝。

一、4500鍍層測厚儀簡介

QNix4200和QNix4500這兩種型號一體化設計，只需調零，無需校準，使用極其簡單。其中QNix4200為磁性測厚儀，可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的非磁性涂層、鍍層；QNix4500為磁性和渦流兩用測厚儀，不僅可以用來測量鋼鐵等磁性基體上的非磁性涂鍍層，還可以用來測量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的非導電涂層，如油漆層、氧化膜、磷化膜等覆層。這兩個型號操作簡單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。

二、測量

將儀器探頭垂直接觸被測物的表面，儀器將自動開機并測得數據。注意：測量時務必要使探頭垂直接觸被測物表面、并壓實，每測量一次后將儀器拿起，離開被測物10cm以上，再進行下一點測量。

三、調零

儀器在測量前，為減少測量誤差，應在基體上取零位作基準。建議用未噴涂的同一種工件表面調零，因為材料之間磁性和導電性不同，會造成一定誤差。若沒有未噴涂的工件可以用附送的調零板調零。用儀器測量基體，如顯示0，表明已是零位，不需要再調零。如不顯示0，則需要調零。將儀器探頭壓在調零板或未噴涂的工件表面上，不要抬起，按一下儀器上的紅鍵松開，聽到響聲液晶顯示一組數后，拿開儀器，再次聽到響聲后，液晶顯示0，調零完畢。注意：由于工件表面粗糙度的原因，調零后，再測時不一定是絕對的零位，這是正常現象。

四、Fe/NFe探頭轉換

QNix4500為兩用探頭，當測量不同的基體時，需要對磁性模式（Fe）與非磁性模式（NFe）進行轉換。在開機狀態下，按紅鍵進入菜單選項，繼續按紅鍵選擇Fe或者Nfe；選項短暫停留后，就已選擇相應的測量模式，也可以選擇Fe/Nfe選項，短暫停留后就進入自動識別基體模式（推薦使用）！

菜單中Averaging為平均值選項，在Averaging選項短暫停留后出現ON和OFF兩個選項，在ON選項下短暫停留后進入平均值測量模式，測量時所顯示讀數為最后三次讀數的平均值（包括本次測量），在OFF選項下短暫停留后退出平均值測量模式。

五、顯示

Fe：測量鐵磁性基體模式

NFe：測量非磁性基體模式

Err：操作失誤

INFI：探頭模式與被測基體不符（見第八項，第二點）

BAT：電量不足，需換電池

六、4500鍍層測厚儀維護和維修

QNix4200/4500測厚儀采用最先進的電子技術,能滿足各種不同的測量要求。高精度的設備,堅固的結構和便于使用等特點使得該儀器具有廣泛的應用。只要正確使用和維護,它的壽命會很長。儀器需要保持清潔, 不要摔落, 避免與潮氣,具有化學腐蝕性的物質或氣體接觸。使用完畢,儀器應被放回具有保護性和便于挪動的盒子中。溫度的劇烈變化將影響測量結果,所以不要直接把儀器暴露在強烈的陽光下或能引起溫度聚變的能量中。儀器對大多數溶劑具有抵抗性,但不能保證極少數化學物質的腐蝕,這時處理的方法僅僅是用一塊潮濕,柔軟的布擦洗儀器。只有探針保持清潔,才能獲得準確的數據,所以要定期檢查探針,清理探針上殘留的污物諸如漆等。儀器長期不被使用時, 為避免因漏電而損壞,要取出電池。出現故障時,請不要自行修理,我們的維修部門隨時竭誠為您服務。

七、技術參數

磁性基體：Fe探頭（4200/4500）

非磁性基體：NFe探頭（4500）

測量范圍：Fe:0-3000μm/NFe:0-3000μm

精度：

0-50μm:≤±1μm；50-1000μm:≤±1.5%讀數；1000-3000μm:≤±3%讀數

最小接觸面：10×10mm

最小曲率半徑：凸面：3mm 凹面：25mm

最小機體厚度：Fe:0.2mm/NFe:0.05μm

溫度補償范圍：-10℃-60℃

測量范圍：0℃-50℃

顯示：LCD液晶

探頭：紅寶石固定式

電源：2×1.5V干電池

尺寸：100×60×27mm

重量：105g

八、4500鍍層測厚儀注意事項和常見問題

1.測量應為點接觸，嚴禁將探頭置于被測物表面滑動。

2.出現INFI時，有可能是由于測量基體選擇錯誤造成的，請按照第四項選擇測量基體FE、NFE或自動識別FE/NFE，如未能解決，請執行第三項調零過程即可。

3.因國家地區所用厚度單位不同，在中國銷售的Qnix4500/4200型使用的是μm，因此屏蔽了英制單位mil，有時因操作不當激活mil單位，此時用戶只需復位即可，復位過程為先把電池取下，然后按住紅鍵裝上電池，復位完成后松開紅鍵即可。

4500鍍層測厚儀的任何有關信息，都可以咨詢我們；還可以獲得更多的圖片，技術參數，規格型號，用途說明，使用操作說明書，使用注意事項；具體操作方法等；歡迎致電我們，我們將提供優質的產品和完善的服務。

該公司產品分類：霧度儀美能達光澤度儀維修 BYK光澤度儀維修光澤度儀維修日本孔雀日本得樂量具量儀 BYK色差儀維修綜合測試卡色彩還原測試卡精密色差儀其它測試卡畸變測試卡灰階測試卡膚色卡分辨率測試卡動態范圍測試卡白平衡測試卡 SFR/MTF測試卡圖像分析軟件

CMI900CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀

X射線熒光測厚儀CMI900

CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀CMI900介紹

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點，在質量管理到不良品分析有著廣泛的應用。用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個行業。

CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀CMI900主要特點

樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測元素范圍：Ti22 – U92 可同時測定5層/15種元素精度高、穩定性好強大的數據統計、處理功能測量范圍寬 NIST認證的標準片全球服務及支持

CMI900鍍層測厚儀及X射線熒光測厚儀CMI900技術參數

主要規格規格描述 X射線激發系統垂直上照式X射線光學系統空冷式微聚焦型X射線管，Be窗標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選裝備有安全防射線光閘二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選準直器程控交換系統最多可同時裝配6種規格的準直器多種規格尺寸準直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器) 在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器) 樣品室 CMI900 CMI950 －樣品室結構開槽式樣品室開閉式樣品室－最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm －XY軸程控移動范圍標準：152.4 x 177.8mm 還有5種規格任選 300mm x 300mm －Z軸程控移動高度 43.18mm XYZ程控時，152.4mm XY軸手動時，269.2mm －XYZ三軸控制方式多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制－樣品觀察系統高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。激光自動對焦功能可變焦距控制功能和固定焦距控制功能計算機系統配置 IBM計算機惠普或愛普生彩色噴墨打印機分析應用軟件操作系統：Windows2000中文平臺分析軟件包：SmartLink FP軟件包－測厚范圍可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。－基本分析功能采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測元素范圍：Ti22 – U92 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正貴金屬檢測，如Au karat評價材料和合金元素分析，材料鑒別和分類檢測液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析－調整和校正功能系統自動調整和校正功能，自動消除系統漂移－測量自動化功能鼠標激活測量模式：“PointShoot” 多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式測量位置預覽功能激光對焦和自動對焦功能－樣品臺程控功能設定測量點連續多點測量測量位置預覽(圖表顯示) －統計計算功能平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖數據分組、X-bar/R圖表、直方圖數據庫存儲功能任選軟件：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書－系統安全監測功能 Z軸保護傳感器樣品室門開閉傳感器操作系統多級密碼操作系統：操作員、分析員、工程師

CMI900CMI900涂鍍層測厚儀

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀 Advanced Materials Analysis Instrument

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統的中文版SmartLink FP應用軟件包，實現了對CMI900/950主機的自動化控制，分析中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測定最多5層、15種元素。數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。

COMPACT ECOX射線鍍層測厚儀

COMPACT ECO測厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能。不單性能、而且價錢超值。分析鍍層厚度和元素成色同時進行，只需幾秒鐘，便能非破壞性地得到的測量結果甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。

DT-156 涂鍍層測厚儀安徽蕪湖合肥低價銷售DT-156 涂鍍層測厚儀

安徽蕪湖合肥低價銷售DT-156 涂鍍層測厚儀

本涂鍍層測厚儀探頭可以工作在電磁感應和渦流兩種原理下。在自動模式（AUTO）下，兩種原理可視測量的基體自動轉換，或可通過菜單進行自動模式和非自動模式轉換。

1.可測量涂鍍層：任何磁性物質表面的非磁性涂鍍層厚度；任何非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度 2.易于操作的菜單設計l 3.連續和單次測量方式l l 4.直接工作模式和組工作模式 5.可統計并顯示：平均值、最大值、最小值、標準方差、統計數l 6.非常方便的進行一點或兩點校準l l 7.可保存320個測量數據供隨時下載至計算機處理 8.實時刪除測量數據和組數據l 9.高低限報警l 10.低電和錯誤提示l l 11.USB傳輸數據至計算機分析統計 12.可設置的自動關機功能l

傳感器探頭	鐵磁性	非鐵磁性
工作原理	磁感應	渦流
測量范圍	0~1250um	0~1250um
	0~49.21mil	0~49.21mils
誤差	0~850 um （+/- 3%+1um）	0~850 um（+/- 3%+1.5um）
（相對當前讀數）	850um~1250um （+/- 5%）	850um~1250 um （+/- 5%）
	0~33.46 mils （+/- 3%+0.039mils）	0~33.46mils （+/- 3%+0.059mils）
	33.46um~49.21mils （+/- 5%）	33.46um~49.21mils （+/- 5%）
精度	0~50um （0.1um）	0~50um （0.1um）
	50um~850um（1um）	50um~850um（1um）
	850um~1250um（0.01mm）	850um~1250um（0.01mm）
	0~1.968mils （0.001mils）	0~1.968mils （0.001mils）
	1.968mils~33.46mils（0.01mils）	1.968mils~33.46mils（0.01mils）
	33.46mils~49.21mils（0.1mils）	33.46mils~49.21mils（0.1mils）

測溫儀*1 使用說明書 *1 保修卡 *1 電池 *2 硬盒*1 彩盒*1 USB連接線纜*1 軟件CD*1 1.4 探頭*1

廠家低價供應蕪湖涂鍍層測厚儀，合肥涂鍍層測厚儀，南京涂鍍層測厚儀

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鍍層測厚儀

探頭	ECO-M鋅鎳均可測量
度	±1%
測量范圍	0.08-1.50mils（2-38um）
分辨率	0.01mils（0.1um）
執行標準	ASTM B244-B259;DIN 50984;ISO 2360;ISO29168（DRAFT）;BS 5411
單位	公、英制自動轉換
統計數據顯示	讀取次數、平均值、標準差、值、值、最終值
記憶儲存	12400個數據
接口	RS-232
顯示	液晶顯示，字符高12.7mm
電池	9V電池
外型尺寸	14.9X7.94X3.02cm
重量	260g（含電池）
品牌	英國牛津儀器
產地	美國

該公司產品分類：化學/化工 X熒光光譜、XRF（能量色散型X熒光光譜儀）在線折射儀水質毒性分析儀/水質生物毒性分析儀對色燈箱、標準光源箱光度儀、霧度儀、光澤度儀電磁/電渦流測厚儀電導率儀、電導儀、鹽度計 PH計、酸度計色牢度儀、色牢度試驗機其它紡織類儀器紗線類測試儀器織物類測試儀器摩擦系數測試儀、剝離系數試驗儀耐折度試驗機耐破度試驗機紙板環壓強度試驗機其他電解式測厚儀壓力測厚儀

MC-2000AMC-2000A涂層測厚儀,涂鍍層測厚儀,山東涂層測厚儀

MC-2000A涂層測厚儀,涂鍍層測厚儀,山東涂層測厚儀

高精度涂層測厚儀,北京涂層測厚儀,質優價廉涂層測厚儀

涂層測厚儀MC-2000A應用范圍：

本儀器采用磁性測厚法，可以方便無損地測量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業。

涂層測厚儀MC-2000A工作原理：

MC-2000A型涂（鍍）層測厚儀采用電磁感應法測量涂（鍍）層的厚度。位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂（鍍）層厚度。

涂層測厚儀MC-2000A技術參數：

1、測量范圍：　　0~1200um

2、測量誤差：　　<3%±1um

3、最小示值：　　1um

4、顯示方式： 4位液晶數字顯示

5、主要功能：

（1）.測量：　單探頭全量程測厚

（2）.存儲、刪除：可存入測量數據600個，對測量中的單個可疑數據進行刪除，也可以刪除存儲區內的所有數據。

（3）.讀：　讀出已存入的測量數據

（4）.統計：設有三個統計量，平均值最大值最小值

（5）.校準：可進行零點校準、兩點校準及系統校準

（6）.電量：具有欠壓顯示功能

（7）.蜂鳴提示：操作過程中有蜂鳴提示

（8）.打印：可打印測量值，選配微型打印機

（9）.關機：具有自動關機和手動關機兩種方法

6、電源：　　　兩節1.5v電池

7、功耗：　　　最大功耗100mw

8、外形盡寸：　50mm*124mm*24mm

9、重量：　　　　　150g（含電池）

10、使用環境溫度：　0℃~+40℃ 相對濕度：不大于90%

11、基體最小厚度： 0.2mm

12、基體最小平面： 7mm

13、最小曲率半徑：凸:1.5mm 凹:6mm

14、欠電壓指示：右上角顯示＂＂

*臨界厚度小：工件鐵基厚度大于1mm時,其涂（鍍）層厚度的測量不受鐵基厚度

濟寧陸屹銷售專員：李慧霞

該公司產品分類：礦車

CMI960X熒光鍍層測厚儀

CMI900 X熒光鍍層測厚儀特點:● 精度高、穩定性好 ● 強大的數據統計、處理功能 ● 測量范圍寬 ● X熒光鍍層測厚儀NIST認證的標準片 ● 全球服務及支持

CMI900 X熒光鍍層測厚儀技術參數： X射線激發系統垂直上照式X射線光學系統空冷式微聚焦型X射線管，Be窗標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準? 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選裝備有安全防射線光閘二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選準直器程控交換系統X熒光鍍層測厚儀最多可同時裝配6種規格的準直器多種規格尺寸準直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等? 測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器) 在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)樣品室結構：開槽式樣品室最大樣品臺尺寸： 610mm x 610mm XY軸程控移動范圍：標準：152.4 x 177.8mm 還有5種規格任選 Z軸程控移動高度:? 43.18mm XYZ三軸控制方式: X熒光鍍層測厚儀多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制樣品觀察系統:高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。激光自動對焦功能可變焦距控制功能和固定焦距控制功能計算機系統配置: IBM計算機,惠普或愛普生彩色噴墨打印機分析應用軟件:? 操作系統：Windows2000中文平臺, 分析軟件包：SmartLink FP軟件包測厚范圍:?可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。 CMI900 X熒光鍍層測厚儀基本分析功能:采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測元素范圍：Ti22 – U92 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正貴金屬檢測，如Au karat評價材料和合金元素分析，材料鑒別和分類檢測液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析調整和校正功能: 系統自動整和校正功能，自動消除系統漂移測量自動化功能鼠標激活測量模式：“PointShoot” 多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式測量位置預覽功能激光對焦和自動對焦功能樣品臺程控功能: 設定測量點, 連續多點測量, 測量位置預覽(圖表顯示)X熒光鍍層測厚儀統計計算功能平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖數據分組、X-bar/R圖表、直方圖數據庫存儲功能任選軟件：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書系統安全監測功能Z軸保護傳感器樣品室門開閉傳感器操作系統多級密碼操作系統：操作員、分析員、工程師

LE-370/LH-370/LZ-37涂鍍層測厚儀（膜厚計）

技術參數

測量方式	電磁式	渦流式
探頭型號	LEP-J（Fe）	LHP-J（NFe）
測量對象	磁性金屬（鐵、鋼）上非磁性涂鍍層	非磁性金屬（非鐵）上的絕緣層
測量范圍	0～2500um（99mils）	0～1200um（47mils）
測量精度	<50um:±1um; 50～1000um:±2%; >1000um:±3%
分辨率	<100um:0.1um; >1000um:±1um
存儲數據	約3000個
預存通道	電磁式和渦流式各50個，共計100個
顯示方式	LCD數顯
數據輸出	連接電腦或打印機
電源	5#電池×4個
消費電量	80mW（不使用背光狀態下）
電池壽命	100小時（不使用背光狀態下連續使用的情況下）
室溫要求	0～40℃
外形尺寸	主機：75（W）×145（D）×31（H）, 340g
標準配置	鐵基體，非鐵基體，標準片，V型塊，主機皮套，電池×4個，使用說明書
可選附件	標準片，專用臺架，軟件，數據線，探頭

EX-3000臺式涂鍍層測厚儀

Windows下中文操作界面●　可選擇自動測量臺●　解析度0.001μm●　最小測量面積0.1mm²●　可測量合金層的厚度以及成分比例●　對于多層鍍層可測量每一層精確厚度●　可通過X線進行元素光譜分析●　適用對象：IC導線架、封裝業PCB業、精密零件業●　電鍍業、電子各機型規格其它：各機型規格、機型手動測量臺、自動測量臺、測量主體、移動量、測定物量大高度、尺寸、重量、樣品最大荷重、電腦、印表機、本體、顯示幕。各機型規格

	機型		手動測量臺	自動測量臺
	測量臺尺寸（mm）		170x110	240x220
測量主體	移動量	X（mm）	70	200
		Y（mm）	70	200
		Z(mm)	50(最大150)	50
	測定物最大高度（mm）		50（option150）	50
	尺寸（mm）		602(W)x463(D)x732(H)
	重量（kg）		55	61
	樣品最大荷重（kg）		3	1
電腦	尺寸（mm）		本體182（W）x372(H)/顯示幕412（W）x415(D)x432(H)
	重量（kg）		本體9/顯示幕
印表機	重量（kg）		5.2
			AC100V±10V(otion AC115V.AC220V)

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