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美國MATRIX手提式X射線鍍層測厚儀

全球款手提式 X-射線鍍層測厚儀

這一款手提式測厚儀,在大型材料及各種形狀配件鍍層厚度的無損檢測上有著明顯的優(yōu)勢。

具備“批量測試”模式,即一次可以測量出一批小樣品的總鍍層厚度及平均鍍層厚度

可廣泛應用于建筑材料,電子,鍍金行業(yè)及公證/檢測機構(gòu)的鍍層檢測。

 

配置說明:

微型銀或鎢X-射線管,5個準直器。

檢測器:半導體高分辯率的檢測器。

電源供應:包含兩塊可充電鋰電池和充電器。

操作溫度:-10 ~50攝氏度

FP軟件測試包:測鍍層薄膜厚度及金屬元素分析

 

多年來,我們一直于為PCB 廠商,電鍍行業(yè),科研機構(gòu),半導體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務。讓客戶滿意,為客戶創(chuàng)造最大的價值是我們始終追求的目標,因為我們堅信,客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍圖!

TT220數(shù)字式涂鍍層測厚儀

涂鍍層測厚儀采用了磁性測厚法,是一種超小型測量儀,它能快速、無損傷、精頦地進行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量。可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小,測頭與儀器一體化,特別適用于工程現(xiàn)場測量。  涂鍍層測厚儀詳細說明     TT220采用了磁性測厚法,是一種超小型測量儀,它能快速、無損傷、精頦地進行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量。可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小,測頭與儀器一體化,特別適用于工程現(xiàn)場測量。 涂鍍層測厚儀主要功能   可進行零點校準及二點校準。   可對測頭進行基本校準。   設有五個統(tǒng)計量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測試次數(shù)(NO)、標準偏差(S.DEV)。   可存貯和統(tǒng)計計算15個測量值。   具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)。   具有自動關(guān)機功能。   刪除功能:對測量中出現(xiàn)的單次可疑數(shù)據(jù)進行刪減       操作過程有蜂鳴聲提示。   有欠壓指示功能。   有錯誤提示功能。 主要技術(shù)指標   測量原理:磁性法   測量范圍:1~1250μm   測量精度:±(3%H+1)μm(零點校準)        ±[(1~3)%H+1] μm(二點校準)

聯(lián)系方式

寧波市江東歐億檢測儀器有限公司

聯(lián)系人:高錫武 麻盛杰

電話:0574-87929708

傳真:0574-27865232

手機:13780003568

電子郵件: westwood2000@163.com

郵政編碼:315040

GALVANOTEST 德國EPK公司庫侖鍍層測厚儀GALVANOTEST

可測實際應用的所有鍍層 • 利用庫侖電量分析原理,測量鍍層、多層鍍層 • 符合國際標準:DIN EN ISO 2177

GALVANOTEST 可以測量

2000

3000

可以測量70種以上鍍層/基體組合

可以測量平面、曲面上的鍍層

可以測量小零件、導線、線狀零件

預置10種金屬的測量參數(shù):Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘、Au金(需提供樣品確定)

 

預置9種金屬的測量參數(shù):Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。

 

用戶可另設置8種金屬的測量參數(shù)

 

用戶可另設置1種金屬的測量參數(shù)

 

測量機構(gòu):

 

 

帶循環(huán)泵

 

帶氣泵

 

測量面積:

 

 

密封墊 8 mm2

 

密封墊 4 mm2

密封片 1 mm2

密封片 0.25 mm2(涂鍍層面積幾乎小得看不見)

 

電解杯 0.25-16 mm2 (可選件)

測量參數(shù)化調(diào)整:

 

 

除鍍速度0.3-40 μm/分鐘可調(diào)

根據(jù)金屬和測量表面可直接調(diào)整系數(shù)

可用厚度標準樣板校準

可調(diào)整終點電壓,以抗干擾,適應鍍層/基體之間的合金

GALVANOTEST的數(shù)據(jù)存儲

 

 

可存儲不同金屬測量參數(shù)的數(shù)目

10

18

可存儲的讀數(shù)和統(tǒng)計值

2000

2000

儀器斷電后可保持所有校準值、讀數(shù)、統(tǒng)計值。

統(tǒng)計計算:

 

 

顯示6種統(tǒng)計值:均值、標準偏差、變異系數(shù)、最大、最小值、讀數(shù)個數(shù)

立即或稍后顯示統(tǒng)計值

立即或稍后打印讀數(shù)和統(tǒng)計值

 

顯示、打印年、月、日、時、分

用于外設的計算機接口:

 

 

MINIPRINT 微型打印機接口

RS-232PC計算機接口

連接x-t計錄儀模擬電壓輸出接口

電解液飽和報警指示

 

測量的不確定性:

 

 

5%,在8mm2面積下,經(jīng)校準

電源:

 

 

110/220V50/60HZ10W

測量范圍:

 

 

最大測量范圍:0.05-75μm

該公司產(chǎn)品分類: 紡織儀器 工具 記錄儀 變送器 儀器配件 電源供應器 溫度熱電偶 空調(diào)檢測儀器 農(nóng)業(yè)檢測儀器 表面測試儀器 家居系列產(chǎn)品 安規(guī)檢測儀器 測繪檢測儀器 建筑檢測儀器 計量標定儀器 通用檢測儀器 電子電力工具 水質(zhì)分析儀器 電力電工儀器 警用安檢設備

Qnix4500涂層測厚儀廣東涂層測厚儀 油漆測厚儀 粉末測厚儀 鍍層測厚儀 測厚儀

Qnix4500涂層測厚儀
 
QUANIX4500/Qnix4500涂層測厚儀
型號:QUANIX(Qnix)4500
 
詳細描述:
QNIX4500涂層測厚儀用于測量
1.測量鋼鐵等磁性金屬基體上的非磁性涂層、鍍層、氧化層,如油漆、粉末、塑料、橡膠、鋅、鉻、鋁等; 2.測量鋁、銅、鋅、不銹鋼等非磁性金屬基體上的絕緣涂鍍層,如油漆、瓷、塑料、琺瑯氧化層等。
QNIX4500涂層測厚儀
QuaNix4500
德國尼克斯涂鍍層測厚儀
QuaNix4500:  只需調(diào)零、無需校準
Fe/NFe兩用探頭  一體、分體化設計  自動開關(guān)機
 
QuaNix/Qnix技術(shù)參數(shù)
型 號
4500和4500/5
4500P和4500P5
基 體
Fe/NFe
Fe/NFe
探頭形式
一體/分體
顯 示
LCD數(shù)字顯示
測量范圍
Fe:0-3000μm  或0-5000um
NFe:0-3000μm
Fe:0-3000μm 或0-5000um
NFe:0-3000μm
測量精度
0-50μm:≤±1μm,50-1000μm:≤±1.5%,1000-2000μm:≤±2%,
2000-5000μm≤±3%
顯示精度
0-99μm:0.1μm,99-999um:1um,1000μm以上,0.01mm
工作溫度
-10 - +60℃
溫度補償
0-50℃
最小基體
10mm×10mm
最小曲率
凸、凹半徑:3mm/25mm
最薄基體
Fe:0.2mm,NFe:0.05mm
電 源
5號電池2節(jié)
重 量
110g
尺 寸
110×60×27mm
 
該公司產(chǎn)品分類: 氣體檢測儀 涂層測厚儀 里氏硬度計 超聲波測厚儀

OSPrey800(OSP鍍層測厚儀)OSPrey800(OSP鍍層測厚儀)

詳細說明

OSPrey800@儀器利用光譜分析原理無損檢測OSP鍍層厚度。無需準備樣品,可實時檢測實際產(chǎn)品上的OSP鍍層厚度。

 

OSPrey800@儀器在檢測過程中不會對PCB/PWB板產(chǎn)生不利影響。通過進行PCB/PWB上OSP鍍層厚度的定量、完整性、性及膜層形態(tài)的細致分析,進而檢驗OSP鍍層的應用性。

 

檢測可在OSP鍍層的生命周期的不同階段進行,使用戶可以通過監(jiān)控OSP鍍層形成和儲藏過程中產(chǎn)生的不良變化對工藝進行必要的調(diào)整。例如,可以在PCB/PWB生命周期的不同階段檢測OSP鍍層的厚度以預測在后續(xù)的工藝過程中由于OSP鍍層的可焊性變化而對工藝產(chǎn)生的影響。

 

產(chǎn)品特色:

  • 無損實時檢測
  • 不再使用檢驗銅箔,無需樣品制備
  • 超小檢測點
  • 二維圖象分析功能
  • 可在粗糙表面測量OSP鍍層厚度
  • 人性化操作流程設計

行業(yè)

  • PCB印刷電路板
  • OSP電鍍廠

MP10渦流法涂鍍層測厚儀

價格便宜的ISOSCOPE® MP10儀器適合于使用在不需要全部測量數(shù)據(jù)存儲,評估和輸出,但又需要在各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測試工件上測量的情況下。配有不同種類的探頭以適應各種應用情況。探頭自動識別。應用程式特定的校準參數(shù)儲存在測量探頭中,因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進行測量。 ISOSCOPE® MP10配備有一個獨特的和便于讀取的60 x 30 mm (2.4" x 1.2")液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便,包括單個測量讀數(shù),測量次數(shù),以及顯示操作模式和設置的圖標和符號, 2行文本各16個字母或可自由選擇的符號以用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示。 ISOSCOPE® MP10 采用根據(jù)DIN EN ISO 2360, ASTM B244標準的電渦流方法,適用于測量:l 非導電涂層在非鐵金屬基材上,例如:油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上 l 鋁的陽極氧化層(非鐵基材)

韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀

韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀

Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能,而且價錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.

可測元素范圍:

鈦(Ti) – 鈾(U)

可測量厚度范圍:

原子序22-25,0.1-0.8μm

26-40,0.05-35μm

43-52,0.1-100μm

72-82,0.05-5μm

X-射線管:油冷,超微細對焦

高壓:0-50KV(程控)

準直器:

固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

電腦系統(tǒng):IBM相容,17”顯示器

 

綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.

統(tǒng)計功能:能夠?qū)y量結(jié)果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便的控制品質(zhì).

 

多年來,我們一直于為PCB 廠商,電鍍行業(yè),科研機構(gòu),半導體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務。讓客戶滿意,為客戶創(chuàng)造最大的價值是我們始終追求的目標,因為我們堅信,客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍圖!欲了解產(chǎn)品詳情,請與我們聯(lián)系或訪問http://eastco.18show.com.cn

Thick 800A鍍層測厚儀

儀器介紹

       Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗,專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。是一款功能強大的儀器,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求高精度移動平臺可精確定位測試點,重復定位精度小于0.005mm采用高度定位激光,可自動定位測試高度定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點高分辨率探頭使分析結(jié)果更加良好的射線屏蔽作用測試口高度敏感性傳感器保護

技術(shù)指標

型號:Thick 800A元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。 同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)任意多個可選擇的分析和識別模型。相互獨立的基體效應校正模型。多變量非線性回收程序度適應范圍為15℃至30℃。電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。 外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm 樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm重量:90kg

標準配置

開放式樣品腔。精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探測器。信號檢測電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機

應用領域

黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機構(gòu);電鍍行業(yè)。

該公司產(chǎn)品分類: ROHS2.0測試儀 等離子體發(fā)射光譜儀ICP 手持式光譜儀 光電直讀光譜儀 波長色散X熒光光譜儀 能量色散X熒光光譜儀

涂層鍍層測厚儀

一、德國Elwktro physik涂層鍍層測厚儀1、 MIKROTEST自動型覆層測厚儀   適用于鋼、鐵上點鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層   自動測量不會發(fā)生誤操作   不用校準,設定,檢閱簡便   不需要電池或其他電源   抗機械沖擊,耐酸及溶劑腐蝕   平衡裝置消除地心引力影響,可在任意方向和管內(nèi)測量 型號 測量范圍(um) 讀數(shù)精度 最小測量區(qū)直徑(mm) 最小半徑(mm) 基體最小厚度(mm) 凸 凹 MIKROTEST 6G 0-100 1um或5%度數(shù) 20 5 25 0.5 MIKROTEST 6F 0-1000 3um或5%讀數(shù) 30 8 25 0.5  2、 Minitest 電子型涂鍍層測厚儀   小巧、實用,用于無損、快速、精確地測量涂層、鍍層厚度   F型用于鋼鐵上的所有非磁性涂層鍍層   N型用于有色金屬上的所有絕緣涂層   讀數(shù)和統(tǒng)計數(shù)據(jù)可以打印(選配)   尤其適用于防腐工業(yè)及建筑型材料,制造工業(yè)的防腐涂鍍層測量Minitest 600,600B電子型涂層測厚儀技術(shù)規(guī)格:測量范圍:F型    0-3000um          N型    0-2000um          FN型   0-3000um(F),0-2000um(N)允許誤差:±2um或±2-4%最小曲率半徑:5mm(凸),25mm(凹)最小測量面積:φ20mm最小基本厚度:0.5mm(F型),50mm(N型)顯示:4位數(shù)字校準方式:標準校準,一點校準,二點校準接口:RS-232(不適用于B型) 二、德國BYK多用途干膜檢驗儀(PIG)   在各種底材上(鐵,非磁性金屬,塑料,木材)測量涂層厚度   測量范圍:0-2000um/2um   用十字劃格刀進行附著力的測試符合ASTM D3359,DIN53 151   通過顯微鏡可觀察針孔、陷坑、裂痕、氣泡、鱗片層間附著力以及底材預處理的質(zhì)量控制   加硬刀頭可進行布氏壓痕硬度試驗 三、德國BYK濕膜測厚儀  具有多種規(guī)格可供選擇:測量范圍               外徑尺寸1、25-2000um                90mm2、5-150um                  58mm3、1-80mils                  90mm4、0-6mis                   58mm  

DT-156涂鍍層測厚儀

  產(chǎn)品系列DT-156涂鍍層測厚儀探頭可以工作在電磁感應和渦流兩種原理下。在自動模式(AUTO)下,兩種原理可視測量的基體自動轉(zhuǎn)換,或可通過菜單進行自動模式和非自動模式轉(zhuǎn)換。 特性 1、可測量涂鍍層:①磁性物質(zhì)表面的非磁性涂鍍層厚度②非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度2、豐富的操作菜單3、連續(xù)和單次測量方式4、直接工作模式和組工作模式5、可統(tǒng)計并顯示:平均值、最大值、最小值、標準方差、統(tǒng)計數(shù)6、可進行一點或兩點校準7、可保存400個測量數(shù)據(jù)8、USB連接并將數(shù)據(jù)傳輸至電腦9、實時刪除測量數(shù)據(jù)和組數(shù)據(jù)10、紅寶石探頭11、低電和錯誤提示12、可設置的自動關(guān)機功能 技術(shù)指標

傳感器探頭 鐵磁性 非鐵磁性
工作原理 磁感應 渦流
測量范圍 0~1250μm 0~1250μm
精確度 ±3%+1μm ±3%+1.5μm
分辨率 0.1μm 0.1μm
最小曲率半徑 1.5mm 3mm
最小測量面積(直徑) 7mm  5mm 
可測量基體最小厚度 0.5mm 0.3mm

尺寸:113.5*54*27mm重量:110g

該公司產(chǎn)品分類: 數(shù)據(jù)記錄儀 數(shù)字萬用表 電力測試儀 環(huán)境測試儀 汽車類儀表 工業(yè)紅外熱像儀 涂層測厚儀 紅外線測溫儀 數(shù)字鉗形表

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質(zhì) 生物試劑
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