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探針臺(tái)產(chǎn)品及廠(chǎng)家

真空探針臺(tái)高低溫測(cè)試實(shí)驗(yàn)臺(tái)材料測(cè)試霍爾測(cè)試

應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。

更新時(shí)間:2025-04-10

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京錦正茂科技有限公司

JZM-63H JZM-100H氣氛型高溫探針臺(tái)真空環(huán)境材料光學(xué)電學(xué)測(cè)試

氣氛型高溫探針臺(tái)真空環(huán)境材料光學(xué)電學(xué)測(cè)試控溫精度：±0.1k；真空度：10e-3pa；

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定制探針臺(tái)高低溫真空磁場(chǎng)高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)

定制探針臺(tái)高低溫真空磁場(chǎng)高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。

更新時(shí)間:2025-04-10

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磁場(chǎng)探針臺(tái)產(chǎn)生多維磁場(chǎng)半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備

磁場(chǎng)探針臺(tái)產(chǎn)生多維磁場(chǎng)半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備三維探針臺(tái)和錦正茂自主研發(fā)的高精度雙性電源相匹配，通過(guò)真正的雙性電源輸出，實(shí)現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場(chǎng)合成。

更新時(shí)間:2025-04-10

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JZM-D30室溫探針臺(tái)磁場(chǎng)高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)材料測(cè)試

探針臺(tái)主要依據(jù)客戶(hù)的使用情況進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化。

更新時(shí)間:2025-04-10

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低溫三維探針臺(tái)的技術(shù)參數(shù)

可以進(jìn)行真空環(huán)境中的高低溫測(cè)試（10k~325k）。磁場(chǎng)強(qiáng)度在x軸上為0.75t，在y軸上為0.75 t，在z軸上為0.4t。磁場(chǎng)均勻性：中心區(qū)域60mm球體內(nèi)為1%。

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GC350-200高溫磁場(chǎng)加熱系統(tǒng)

主要技術(shù)指標(biāo)：※ 溫度范圍：室溫—350℃（硅片上邊溫度）※ 控溫精度：±1℃※ 溫度分辨率：0.1℃※ 樣品尺寸：8英寸（需要有固定夾具，還有10mmx10mm,20mmx20mm樣品也需要考慮單獨(dú)固定）

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錦正茂科技低溫三維磁場(chǎng)探針臺(tái)

可以進(jìn)行真空環(huán)境中的高低溫測(cè)試（10k~325k）。磁場(chǎng)強(qiáng)度在x軸上為0.75t，在y軸上為0.75 t，在z軸上為0.4t。

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T8-LY100高低溫探針臺(tái) 用于傳感器半導(dǎo)體光電測(cè)試

1、真空腔體約直徑260mm，2、帶有4英寸高透射觀察窗，材質(zhì)熔融石英3、樣品載臺(tái)直徑：50mm 樣品載臺(tái)平整度<5微米

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材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測(cè)量高低溫真空磁場(chǎng)環(huán)境探針臺(tái)

材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測(cè)量高低溫真空磁場(chǎng)環(huán)境探針臺(tái)錦正茂高低溫真空探針臺(tái)高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。

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JZM-D30室溫探針臺(tái)材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測(cè)量設(shè)備儀器

jzm-d30室溫探針臺(tái)材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測(cè)量設(shè)備儀器錦正茂jzm-d30室溫探針臺(tái)的諸多設(shè)計(jì)都是﹡用的，探針臺(tái)的配置主要是根據(jù)用戶(hù)的需求進(jìn)行選配及設(shè)計(jì)。

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JZM-63H JZM-100H氣氛型高溫探針臺(tái)半導(dǎo)體材料測(cè)量

氣氛型高溫探針臺(tái)半導(dǎo)體材料測(cè)量快速實(shí)現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測(cè)試，測(cè)試中也可實(shí)現(xiàn)惰性氣體的快速充放。

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半導(dǎo)體材料測(cè)量設(shè)備高低溫真空環(huán)境探針臺(tái)

半導(dǎo)體材料測(cè)量設(shè)備高低溫真空環(huán)境探針臺(tái)高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。

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半導(dǎo)體材料測(cè)量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空環(huán)境探針臺(tái)

半導(dǎo)體材料測(cè)量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空環(huán)境探針臺(tái) 錦正茂高低溫真空探針臺(tái)可進(jìn)行真空環(huán)境下的高低溫測(cè)試（4.2k~500k）。

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半導(dǎo)體材料測(cè)量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空磁場(chǎng)環(huán)境探針臺(tái)

半導(dǎo)體材料測(cè)量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空磁場(chǎng)環(huán)境探針臺(tái) 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、mems 、超導(dǎo)、電子學(xué)、鐵電子學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等域。

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三維磁場(chǎng)探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備

三維磁場(chǎng)探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)備通過(guò)真正的雙性電源輸出，實(shí)現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場(chǎng)合成。

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JZM-63H JZM-100H氣氛型高溫探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)光學(xué)電學(xué)儀器

氣氛型高溫探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)光學(xué)電學(xué)儀器此款探針臺(tái)可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測(cè)試。

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高低溫真空探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)鍍金無(wú)氧銅樣品臺(tái)

高低溫真空探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)鍍金無(wú)氧銅樣品臺(tái)可升加載磁場(chǎng)，低溫防輻射屏設(shè)計(jì)。

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室溫探針臺(tái)實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測(cè)試儀器光學(xué)平臺(tái)

該類(lèi)型的探針臺(tái)主要依據(jù)客戶(hù)的使用情況進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化。

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該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京錦正茂科技有限公司

多維磁場(chǎng)探針臺(tái)半導(dǎo)體材料光學(xué)測(cè)量實(shí)驗(yàn)室儀器

錦正茂三維磁場(chǎng)探針臺(tái) 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、mems 、超導(dǎo)、電子學(xué)、鐵電子學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等域。

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定制氣氛型高溫探針臺(tái)光學(xué)電學(xué)測(cè)試儀器

根據(jù)樣品材料，形狀不同可選擇探針，插拔等多種安裝測(cè)試方式。

更新時(shí)間:2025-04-10

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高低溫真空探針臺(tái)材料測(cè)試電磁測(cè)試儀器

錦正茂高低溫真空探針臺(tái)應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。

更新時(shí)間:2025-04-10

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三維磁場(chǎng)探針臺(tái)多維磁場(chǎng)實(shí)驗(yàn)裝置半導(dǎo)體材料測(cè)試

三維探針臺(tái)和錦正茂自主研發(fā)的高精度雙性電源相匹配，通過(guò)真正的雙性電源輸出，實(shí)現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場(chǎng)合成。

更新時(shí)間:2025-04-10

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實(shí)驗(yàn)室高低溫真空環(huán)境高精度探針臺(tái)防輻射實(shí)驗(yàn)臺(tái)

應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。

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JZM-D30室溫探針臺(tái)磁場(chǎng)、電源、樣品臺(tái)均可定制

該探針臺(tái)和我司自主研發(fā)的高精度雙性恒流電源搭配使用，可以提高磁場(chǎng)的高穩(wěn)定性。

更新時(shí)間:2025-04-10

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實(shí)驗(yàn)測(cè)量設(shè)備磁場(chǎng)探針臺(tái)芯片測(cè)試半導(dǎo)體儀器

實(shí)驗(yàn)測(cè)量設(shè)備磁場(chǎng)探針臺(tái)芯片測(cè)試半導(dǎo)體儀器用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測(cè)試，材料測(cè)試，霍爾測(cè)試，電磁輸運(yùn)特性等。

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T8-LY100錦正茂科技定制高低溫探針臺(tái)

高低溫探針臺(tái)t8-ly100能夠?yàn)榘雽?dǎo)體芯片的電學(xué)參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)80k-420k高低溫測(cè)試環(huán)境，

更新時(shí)間:2025-04-10

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T8-LY100高校科研實(shí)驗(yàn)室高低溫探針臺(tái)

可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及iv曲線(xiàn)等參數(shù)檢測(cè)，用于低溫環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學(xué)測(cè)試。

更新時(shí)間:2025-04-10

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JZM-D30實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體材料測(cè)量?jī)x器定制高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)

實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體材料測(cè)量?jī)x器定制高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)該探針臺(tái)和我司自主研發(fā)的高精度雙性恒流電源搭配使用，可以提高磁場(chǎng)的高穩(wěn)定性。

更新時(shí)間:2025-04-10

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FG PI9208 DRG VST 25M上海祥樹(shù)供應(yīng)FGC濾芯

上海祥樹(shù)歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司成立于1999年，經(jīng)過(guò)多年的努力與良好的信譽(yù)度，公司與國(guó)際機(jī)電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠(chǎng)商密切合作，形成了個(gè)穩(wěn)定而高效的全球化國(guó)際供應(yīng)鏈體系，竭真探頭盡全力為客戶(hù)提供服務(wù)。

更新時(shí)間:2025-04-09

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：上海祥樹(shù)歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司

KG250 T203/05E上海祥樹(shù)供應(yīng)K+N備件

更新時(shí)間:2025-04-09

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：上海祥樹(shù)歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司

KT-Z1604T真空探針臺(tái) 冷熱型

kt-z1604t型號(hào)真空探針臺(tái) 冷熱型鄭科探廠(chǎng)家應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本

更新時(shí)間:2025-04-03

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：鄭州科探儀器設(shè)備有限公司

KT-Z4019MRL4T鉑金叉指電高低溫探針臺(tái)

鉻金薄膜的蒸鍍生長(zhǎng)。本文所研究的叉指電結(jié)構(gòu)采用鉻、金材料制作。先需要在玻璃襯底上生長(zhǎng)一層均勻覆蓋的薄膜。將上一步工藝過(guò)程中清洗好的玻璃片放入電子束蒸發(fā)鍍膜機(jī)中，抽真空后，先蒸鍍 50 厚度的鉻金屬層，再蒸鍍1000Å 厚度的金層，后升溫到 300℃進(jìn)行熱處理以增強(qiáng)鉻金層的黏附性。鉑金叉指電高低溫探針臺(tái)是一款門(mén)用于叉指電的經(jīng)濟(jì)型探針臺(tái)。

更新時(shí)間:2025-04-03

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：鄭州科探儀器設(shè)備有限公司

KT-Z4019MRL4T微電容單通道叉指電高低溫探針臺(tái)

叉指微電因其微小的電間距結(jié)構(gòu)可用于各種小型化傳感器。對(duì)于傳統(tǒng)分析檢測(cè)，包括色譜法、光譜法、質(zhì)譜等方法，大多都需要昂貴的儀器和多種操作步驟，使得許多實(shí)際問(wèn)題仍面臨困難。開(kāi)發(fā)高靈敏度、低成本，小型化的傳感器尤為重要。微電容單通道叉指電高低溫探針臺(tái)kt-z4019mrl4t是一款門(mén)用于叉指電的經(jīng)濟(jì)型探針臺(tái)。可高溫400℃低溫-196℃ 測(cè)試噪聲小于5e-13a 可擴(kuò)展上下雙透視窗口。

更新時(shí)間:2025-04-03

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KT-Z4019MRL4T柔性叉指電微型探針臺(tái)

電的對(duì)數(shù)對(duì)叉指電傳感器信噪比的大小基本沒(méi)有影響。叉指電間距的減小可以使信噪比增大的同時(shí)提高信號(hào)幅。如應(yīng)用于化學(xué)傳感域，叉指電間距的減小還可以有效地提高化學(xué)反應(yīng)的速率、加快建立反應(yīng)進(jìn)行過(guò)程，從而能夠提高傳感器性能，并縮短叉指電傳感器反應(yīng)的時(shí)間。叉指電傳感器的電寬度的減小在提高信噪比的同時(shí)會(huì)使檢測(cè)信號(hào)的幅值降低。柔性叉指電微型探針臺(tái)是一款門(mén)用于叉指電的經(jīng)濟(jì)型探針臺(tái)。

更新時(shí)間:2025-04-03

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KT-Z4019MRL4T硅基叉指電結(jié)構(gòu)高低溫探針臺(tái)

叉指電傳感器主要包括四個(gè)結(jié)構(gòu)參數(shù)，分別為:叉指電對(duì)的對(duì)數(shù)、叉指寬度、相鄰叉指之間的間隙距離以及叉指電的厚度。這四個(gè)參數(shù)對(duì)基于叉指電的生化傳感器關(guān)鍵性能指標(biāo)都有很大影響。硅基叉指電結(jié)構(gòu)高低溫探針臺(tái)kt-z4019mrl4t是用于叉指電的一款性?xún)r(jià)比很高的探針臺(tái)，可進(jìn)行高溫和低溫，采用純銀熱臺(tái)，有導(dǎo)熱更好，不易氧化等特點(diǎn)。

更新時(shí)間:2025-04-03

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：鄭州科探儀器設(shè)備有限公司

KT-Z4019MRL4T硅基叉指電微型探針臺(tái)

微間距的叉指電是一種為常用的微間距電結(jié)構(gòu)，它被廣泛的應(yīng)用于非破壞性測(cè)試、電子通訊、化學(xué)測(cè)試等多個(gè)域。一般來(lái)說(shuō)，不同的應(yīng)用域?qū)τ诓嬷鸽姷男螤睢缀螌W(xué)尺寸、加工工藝、材料的選擇、建模分析、系統(tǒng)集成以及數(shù)據(jù)的分析都有不同的要求，因此對(duì)于不同的域我們應(yīng)該區(qū)分對(duì)待。硅基叉指電微型探針臺(tái)kt-z4019mrl4t是一款門(mén)用于叉指電的經(jīng)濟(jì)型探針臺(tái)。

更新時(shí)間:2025-04-03

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KT-0904T-RL微型高低溫真空探針臺(tái)

微型高低溫真空探針臺(tái)，這款真空變溫探針臺(tái)是業(yè)變溫真空晶圓流測(cè)試設(shè)計(jì)的業(yè)變溫真空探針臺(tái),滿(mǎn)足晶圓變溫光電測(cè)試需要,測(cè)試溫度范圍達(dá)到液氮溫度 -190℃~350℃,特別適合高溫和低溫環(huán)境下晶圓真空變溫測(cè)試和射頻測(cè)試。

更新時(shí)間:2025-04-03

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KT-0904T微型低溫探針冷臺(tái)

微型低溫探針冷臺(tái)，可定低溫制探針臺(tái)系統(tǒng)，整套系統(tǒng)包括探針臺(tái)真空腔主體、鐵制抗震支架、進(jìn)口分子泵機(jī)組、視頻顯微鏡、探針、智能溫控儀等配置

更新時(shí)間:2025-04-03

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KT-0904T-R微型真空探針臺(tái)熱臺(tái)

微型真空探針臺(tái)熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試儀器快速實(shí)現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測(cè)試，測(cè)試中也可實(shí)現(xiàn)惰性氣體的快速充放。

更新時(shí)間:2025-04-03

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KT-0904T-RL小型高低溫探針臺(tái)

小型高低溫探針臺(tái)配套了高精度pid溫度控制器，用戶(hù)可以清楚直觀地了解了整體系統(tǒng)相關(guān)位置的溫度情況，確保溫度測(cè)試的可靠性。同時(shí)，200w 大功率直流輸出，可讓樣品臺(tái)快速?gòu)?196℃上升至350℃，大地提供了溫控效率，為用戶(hù)節(jié)省大量寶貴的實(shí)驗(yàn)時(shí)間。由于系統(tǒng)中溫控部件均為直流配置，也大大地減少了加熱部件的干擾，提供了系統(tǒng) 的漏電精度。

更新時(shí)間:2025-04-03

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：鄭州科探儀器設(shè)備有限公司

KT-0904T-RL叉指電真空探針臺(tái)

叉指電真空探針臺(tái) 是鄭州科探儀器門(mén)為實(shí)驗(yàn)研究設(shè)計(jì)的一款小型探針臺(tái)，具有高低溫功能，智能多端溫控，性?xún)r(jià)比高等特點(diǎn)。叉指陣列微電因其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單容易量產(chǎn),尺寸小響應(yīng)靈敏,且在檢測(cè)中能快速建立穩(wěn)定信號(hào)而被廣泛應(yīng)用于各類(lèi)傳感器中。但是基于叉指電的傳感器在靈敏度、選擇性等重要的性能方面仍有待提高

更新時(shí)間:2025-04-03

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KT-Z400MR4T微型高溫探針臺(tái)

微型高溫探針臺(tái)kt-z400mr4t，0-400℃溫控，主要用于介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學(xué)性能表征和測(cè)量。

更新時(shí)間:2025-04-03

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KT-Z160TZ真空探針臺(tái)

真空探針臺(tái)kt-z160tz，高溫真空腔探針系統(tǒng)主要用于為被測(cè)芯片提供一個(gè)低溫或者高溫的變溫測(cè)量環(huán)境，以便測(cè)量分析溫度變化時(shí)芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測(cè)芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導(dǎo)體器件接觸空氣所帶來(lái)的測(cè)試結(jié)果誤差。

更新時(shí)間:2025-04-03

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JC503-OL-U手動(dòng)檢針器檢針器

手動(dòng)檢針器檢針器可手動(dòng)檢測(cè)鞋底、鞋頭、鞋面、鞋幫、襪子、小型玩具等物品中的鐵類(lèi)金屬可手動(dòng)檢測(cè)鞋底、鞋頭、鞋面、鞋幫、襪子、小型玩具等物品中的鐵類(lèi)金屬。。

更新時(shí)間:2025-04-02

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：北京百萬(wàn)電子科技有限公司

JC503-H48成套兩探針測(cè)試儀

按照我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)gb/t1551-1995及美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)（astm）推薦的材料驗(yàn)收檢測(cè)方法“兩探針?lè)ā痹O(shè)計(jì)。配套測(cè)試架適合于測(cè)量硅芯電阻率。兩探針?lè)ǖ臏y(cè)量精度一般優(yōu)于四探針?lè)ā?/div> 更新時(shí)間:2025-04-02

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JS705-S2二探針測(cè)試儀

二探針測(cè)試儀是運(yùn)用二探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料縱向電阻率的儀器。

更新時(shí)間:2025-04-02

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JC503-D3全自動(dòng)四探針測(cè)試系統(tǒng)

可對(duì)樣品進(jìn)行單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的全自動(dòng)測(cè)試；

更新時(shí)間:2025-04-02

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JC503-WSP-15二探針排重?fù)綔y(cè)試筆探針排重?fù)綔y(cè)試筆排重?fù)綔y(cè)試筆

1、儀器供電：本儀器適用于220v電源，也可直接使用兩節(jié)12v電池供電。（好使用12v堿性電池），方便安全。判別準(zhǔn)確！ 2、電阻率測(cè)量范圍：0.1歐姆/厘米以下會(huì)自動(dòng)報(bào)警。 3、測(cè)試方法：打開(kāi)筆套，將測(cè)試筆針接觸被測(cè)原料，電阻率小于0.1歐姆/厘米時(shí)會(huì)自動(dòng)報(bào)警，電阻率大于0.1歐姆/厘米不報(bào)警。

更新時(shí)間:2025-04-02

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DT309-T22多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀

儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)等部分組成。主機(jī)主要由精密恒流源、高分辨率adc、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤(pán)輸入；具有零位、滿(mǎn)度自校功能；電壓電流全自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀特贈(zèng)設(shè)測(cè)試結(jié)果分類(lèi)功能，大分類(lèi)10類(lèi)。

更新時(shí)間:2025-04-02

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