探針臺產(chǎn)品及廠家
氣氛型高溫探針臺真空環(huán)境材料光學電學測試控溫精度：±0.1k；真空度：10e-3pa；
更新時間:2025-04-10
磁場探針臺產(chǎn)生多維磁場半導體測試設備三維探針臺和錦正茂自主研發(fā)的高精度雙性電源相匹配，通過真正的雙性電源輸出，實現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。
更新時間:2025-04-10
可以進行真空環(huán)境中的高低溫測試（10k~325k）。磁場強度在x軸上為0.75t，在y軸上為0.75 t，在z軸上為0.4t。磁場均勻性：中心區(qū)域60mm球體內(nèi)為1%。
更新時間:2025-04-10
主要技術(shù)指標：※ 溫度范圍：室溫—350℃（硅片上邊溫度）※ 控溫精度：±1℃※ 溫度分辨率：0.1℃※ 樣品尺寸：8英寸（需要有固定夾具，還有10mmx10mm,20mmx20mm樣品也需要考慮單獨固定）
更新時間:2025-04-10
可以進行真空環(huán)境中的高低溫測試（10k~325k）。磁場強度在x軸上為0.75t，在y軸上為0.75 t，在z軸上為0.4t。
更新時間:2025-04-10
1、真空腔體約直徑260mm，2、帶有4英寸高透射觀察窗，材質(zhì)熔融石英3、樣品載臺直徑：50mm 樣品載臺平整度<5微米
更新時間:2025-04-10
材料實驗室半導體測量高低溫真空磁場環(huán)境探針臺錦正茂高低溫真空探針臺高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運特性等。
更新時間:2025-04-10
jzm-d30室溫探針臺材料實驗室半導體測量設備儀器錦正茂jzm-d30室溫探針臺的諸多設計都是﹡用的，探針臺的配置主要是根據(jù)用戶的需求進行選配及設計。
更新時間:2025-04-10
氣氛型高溫探針臺半導體材料測量快速實現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對樣品進行光學，電學測試，測試中也可實現(xiàn)惰性氣體的快速充放。
更新時間:2025-04-10
半導體材料測量設備高低溫真空環(huán)境探針臺高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運特性等。
更新時間:2025-04-10
半導體材料測量高精度實驗臺高低溫真空環(huán)境探針臺 錦正茂高低溫真空探針臺可進行真空環(huán)境下的高低溫測試（4.2k~500k）。
更新時間:2025-04-10
半導體材料測量高精度實驗臺高低溫真空磁場環(huán)境探針臺 廣泛應用于半導體工業(yè)、mems 、超導、電子學、鐵電子學、物理學、材料學和生物醫(yī)學等域。
更新時間:2025-04-10
三維磁場探針臺測試系統(tǒng)實驗室測試設備通過真正的雙性電源輸出，實現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。
更新時間:2025-04-10
氣氛型高溫探針臺測試系統(tǒng)光學電學儀器此款探針臺可在真空環(huán)境下對樣品進行光學，電學測試。
更新時間:2025-04-10
錦正茂三維磁場探針臺 廣泛應用于半導體工業(yè)、mems 、超導、電子學、鐵電子學、物理學、材料學和生物醫(yī)學等域。
更新時間:2025-04-10
三維探針臺和錦正茂自主研發(fā)的高精度雙性電源相匹配，通過真正的雙性電源輸出，實現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。
更新時間:2025-04-10
可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及iv曲線等參數(shù)檢測，用于低溫環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學測試。
更新時間:2025-04-10
實驗室半導體材料測量儀器定制高精度實驗臺該探針臺和我司自主研發(fā)的高精度雙性恒流電源搭配使用，可以提高磁場的高穩(wěn)定性。
更新時間:2025-04-10
上海祥樹歐茂機電設備有限公司成立于1999年，經(jīng)過多年的努力與良好的信譽度，公司與國際機電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作，形成了個穩(wěn)定而高效的全球化國際供應鏈體系，竭真探頭盡全力為客戶提供服務。
更新時間:2025-04-09
上海祥樹歐茂機電設備有限公司成立于1999年，經(jīng)過多年的努力與良好的信譽度，公司與國際機電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作，形成了個穩(wěn)定而高效的全球化國際供應鏈體系，竭真探頭盡全力為客戶提供服務。
更新時間:2025-04-09
kt-z1604t型號真空探針臺 冷熱型 鄭科探廠家應用于傳感器，半導體，光電，集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本
更新時間:2025-04-03
鉻金薄膜的蒸鍍生長。本文所研究的叉指電結(jié)構(gòu)采用鉻、金材料制作。先需要在玻璃襯底上生長一層均勻覆蓋的薄膜。將上一步工藝過程中清洗好的玻璃片放入電子束蒸發(fā)鍍膜機中，抽真空后，先蒸鍍 50 厚度的鉻金屬層，再蒸鍍1000Å 厚度的金層，后升溫到 300℃進行熱處理以增強鉻金層的黏附性。鉑金叉指電高低溫探針臺是一款門用于叉指電的經(jīng)濟型探針臺。
更新時間:2025-04-03
叉指微電因其微小的電間距結(jié)構(gòu)可用于各種小型化傳感器。對于傳統(tǒng)分析檢測，包括色譜法、光譜法、質(zhì)譜等方法，大多都需要昂貴的儀器和多種操作步驟，使得許多實際問題仍面臨困難。開發(fā)高靈敏度、低成本，小型化的傳感器尤為重要。微電容單通道叉指電高低溫探針臺kt-z4019mrl4t是一款門用于叉指電的經(jīng)濟型探針臺。可高溫400℃低溫-196℃ 測試噪聲小于5e-13a 可擴展上下雙透視窗口。
更新時間:2025-04-03
電的對數(shù)對叉指電傳感器信噪比的大小基本沒有影響。叉指電間距的減小可以使信噪比增大的同時提高信號幅。如應用于化學傳感域，叉指電間距的減小還可以有效地提高化學反應的速率、加快建立反應進行過程，從而能夠提高傳感器性能，并縮短叉指電傳感器反應的時間。叉指電傳感器的電寬度的減小在提高信噪比的同時會使檢測信號的幅值降低。柔性叉指電微型探針臺是一款門用于叉指電的經(jīng)濟型探針臺。
更新時間:2025-04-03
叉指電傳感器主要包括四個結(jié)構(gòu)參數(shù)，分別為:叉指電對的對數(shù)、叉指寬度、相鄰叉指之間的間隙距離以及叉指電的厚度。這四個參數(shù)對基于叉指電的生化傳感器關(guān)鍵性能指標都有很大影響。硅基叉指電結(jié)構(gòu)高低溫探針臺kt-z4019mrl4t是用于叉指電的一款性價比很高的探針臺，可進行高溫和低溫，采用純銀熱臺，有導熱更好，不易氧化等特點。
更新時間:2025-04-03
微間距的叉指電是一種為常用的微間距電結(jié)構(gòu)，它被廣泛的應用于非破壞性測試、電子通訊、化學測試等多個域。 一般來說，不同的應用域?qū)τ诓嬷鸽姷男螤睢缀螌W尺寸、加工工藝、材料的選擇、建模分析、系統(tǒng)集成以及數(shù)據(jù)的分析都有不同的要求，因此對于不同的域我們應該區(qū)分對待。硅基叉指電微型探針臺kt-z4019mrl4t是一款門用于叉指電的經(jīng)濟型探針臺。
更新時間:2025-04-03
微型高低溫真空探針臺，這款真空變溫探針臺是業(yè)變溫真空晶圓流測試設計的業(yè)變溫真空探針臺,滿足晶圓變溫光電測試需要,測試溫度范圍達到液氮溫度 -190℃~350℃,特別適合高溫和低溫環(huán)境下晶圓真空變溫測試和射頻測試。
更新時間:2025-04-03
微型低溫探針冷臺，可定低溫制探針臺系統(tǒng)，整套系統(tǒng)包括探針臺真空腔主體、鐵制抗震支架、進口分子泵機組、視頻顯微鏡、探針、智能溫控儀等配置
更新時間:2025-04-03
微型真空探針臺熱臺測試系統(tǒng)測試儀器 快速實現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對樣品進行光學，電學測試，測試中也可實現(xiàn)惰性氣體的快速充放。
更新時間:2025-04-03
小型高低溫探針臺配套了高精度pid溫度控制器，用戶可以清楚直觀地了解了整體系統(tǒng)相關(guān)位置的溫度情況，確保溫度測試的可靠性。同時，200w 大功率直流輸出，可讓樣品臺快速從-196℃上升至350℃，大地提供了溫控效率，為用戶節(jié)省大量寶貴的實驗時間。由于系統(tǒng)中溫控部件均為直流配置，也大大地減少了加熱部件的干擾，提供了系統(tǒng) 的漏電精度。
更新時間:2025-04-03
叉指電真空探針臺 是鄭州科探儀器門為實驗研究設計的一款小型探針臺，具有高低溫功能，智能多端溫控，性價比高等特點。叉指陣列微電因其結(jié)構(gòu)簡單容易量產(chǎn),尺寸小響應靈敏,且在檢測中能快速建立穩(wěn)定信號而被廣泛應用于各類傳感器中。但是基于叉指電的傳感器在靈敏度、選擇性等重要的性能方面仍有待提高
更新時間:2025-04-03
真空探針臺kt-z160tz，高溫真空腔探針系統(tǒng)主要用于為被測芯片提供一個低溫或者高溫的變溫測量環(huán)境，以便測量分析溫度變化時芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導體器件接觸空氣所帶來的測試結(jié)果誤差。
更新時間:2025-04-03
手動檢針器 檢針器可手動檢測鞋底、鞋頭、鞋面、鞋幫、襪子、小型玩具等物品中的鐵類金屬可手動檢測鞋底、鞋頭、鞋面、鞋幫、襪子、小型玩具等物品中的鐵類金屬。。
更新時間:2025-04-02
按照我國標準gb/t1551-1995及美國材料與試驗協(xié)會（astm）推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”設計。配套測試架適合于測量硅芯電阻率。兩探針法的測量精度一般優(yōu)于四探針法。
更新時間:2025-04-02
二探針測試儀是運用二探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國 a.s.t.m 標準而設計的，于測試半導體材料縱向電阻率的儀器。
更新時間:2025-04-02
1、儀器供電：本儀器適用于220v電源，也可直接使用兩節(jié)12v電池供電。（好使用12v堿性電池），方便安全。判別準確！ 2、電阻率測量范圍：0.1歐姆/厘米以下會自動報警。 3、測試方法：打開筆套，將測試筆針接觸被測原料，電阻率小于0.1歐姆/厘米時會自動報警，電阻率大于0.1歐姆/厘米不報警。
更新時間:2025-04-02
最新產(chǎn)品
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- 供應： `VOLLMER`Friedrich Vollmer`壓力表測量用放大器VMF3/22 2025/4/11 17:17:00
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