日立肖特基場發射掃描電鏡此外,為一次性獲取大量信息,單次掃描像素擴展到了40,960 x 30,720(選配),是之型號的64倍。利用這一功能,可憑借一張數據圖像有效評估多處局部的細微結構。在fe-sem的觀察和分析中,需要根據測量樣品與需求調整觀察條件。調整所需時間的長短取決于用戶的操作熟練度,這是造成數據質量與效率差異的因素之一。此系列產品標配自動調整功能,可避免人為操作導
日本電子jsm-7001f熱場發射掃描電子顯微鏡(thermal field emission sem),是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應用需求的理想平臺。具有大型、5軸、全對中馬達驅動自動化樣品臺,還有單動作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑,即使在大電流和低電壓時,也具有適用于eds、wds、ebsp和cl的理想結構的擴充性。樣品室可處理直徑最大為 200mm的樣品。0755-3150