場發(fā)射掃描電鏡產(chǎn)品及廠家
thermo scientific helios 5 d ualbeam 產(chǎn)品系列憑借其最先進的聚焦離子束和電子束性能、專有軟件、自動化和易用性特征，重新定義了樣品制備和三維表征的標準。
更新時間:2025-04-03
jem-3200fs場發(fā)射電子顯微鏡配備了高加速電壓為300kv的場發(fā)射電子槍（feg）和鏡筒內(nèi)置式ω型能量過濾器，能為廣泛的研究域提供各種全新的解決方案。
更新時間:2025-04-03
jem-f200 場發(fā)射透射電子顯微鏡，以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的jem-f200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
更新時間:2025-04-03
德國zeiss場發(fā)射電子顯微鏡sigma 300 ，專利gemini鏡筒，超高的束流穩(wěn)定性， 卓越的低電壓性能，in lens 探測器，磁性材料高分辨觀察。
更新時間:2025-04-03
秉承飛納臺式掃描電鏡系列全自動操作、快速成像、不噴金觀看不導電樣品、完全防震、性能穩(wěn)定的特點，荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發(fā)射電子源臺式掃描電鏡 phenom pharos g2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場發(fā)射電子源，使用戶可以輕松獲得高分辨率圖像，分辨率優(yōu)于 1.5nm
更新時間:2025-04-01
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。基于高亮度 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)，phenom pure 的分辨率輕松達到 10 nm，同時具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點。
更新時間:2025-04-01
zeiss商業(yè)化電鏡的歷史和經(jīng)驗已超過60年，其技術先進、性能卓越，在失效分析以及各種分析研究中具有廣泛的應用。zeiss不斷追求、推出新的技術和新的產(chǎn)品，使其成為不僅可拍攝高分辨率圖像，還可以完成各種各樣的分析研究，更加體現(xiàn)zeiss電子顯微鏡高價值 和高利用性。
更新時間:2025-03-24
zeiss σigma 電鏡為肖特基（schottky）熱場發(fā)射掃描電鏡。目前歐美地區(qū)比較推崇熱場發(fā)射電鏡，而日本較熱衷于冷場發(fā)射電鏡。該場發(fā)射掃描電鏡主要有如下特點：
更新時間:2025-03-24
日立高新技術公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發(fā)售的肖特基式場發(fā)射掃描電子顯微鏡“su5000“，搭載了全新的用戶界面和“em wizard“，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。
更新時間:2025-03-19
可根據(jù)不同樣品設置不同的觀察條件 樣品倉內(nèi)的真空度及加速電壓有多種選擇，可根據(jù)需求自行設置。簡化尋找視野、圖像拍攝、圖像確認等一系列操作過程（選配） 在樣品倉上可選配光學相機，樣品開始觀察先拍攝樣品的整體照片，雙擊照片上的樣品，即可實現(xiàn)照片導航功能。
更新時間:2025-03-15
日立高新熱場式場發(fā)射掃描電鏡這次新開發(fā)的"su5000"對用戶沒有任何操作技巧上的要求，通過”em wizard“只要選擇好觀察目的就可以得到好照片。"em wizard"以人為本的設計理念使電鏡的操作性大幅上升，對于用戶來說，再也不用去討論該用什么條件進行觀察，只要按照觀察目的選擇”表面細節(jié)觀察“或是”成分分布“等就可以自動將適合的觀察條件設置好。除此之外，使用經(jīng)驗豐富的操作人員也可以像往常一樣
更新時間:2025-03-15
日立高新熱場式場發(fā)射掃描電鏡su5000--搭載用戶界面，向所有用戶提供高畫質(zhì)圖像-- 日立高新技術公司（以下簡稱：日
更新時間:2025-03-15
日立肖特基場發(fā)射掃描電鏡su8700fe-sem獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對簡單，并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結(jié)構(gòu)，因此被廣泛應用于納米技術、半導體、電子器件、生命科學、材料等領
更新時間:2025-03-15
日立中型掃描電鏡su38001) 支持超大/超重樣品測試 可搭載的 大樣品尺寸：“su3800” 標配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉，可應對 大高度為80mm、重量為2k
更新時間:2025-03-15
日立臺式掃描電鏡tm4000 ii / tm4000plus i臺式顯微鏡作為掃描電子顯微鏡（sem）在生物技術和材料等領域得到廣泛應用。該系列由日立高新技術于2005年4月開始銷售，可放在辦公桌上，
更新時間:2025-03-15
日立大型掃描電鏡su3900在以納米技術和生物技術為主的產(chǎn)業(yè)領域里，從物質(zhì)的微細結(jié)構(gòu)到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應用。sem用途日益擴大，但對于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車零配件等超大
更新時間:2025-03-15
日立肖特基場發(fā)射掃描電鏡此外，為一次性獲取大量信息，單次掃描像素擴展到了40,960 x 30,720（選配），是之型號的64倍。利用這一功能，可憑借一張數(shù)據(jù)圖像有效評估多處局部的細微結(jié)構(gòu)。在fe-sem的觀察和分析中，需要根據(jù)測量樣品與需求調(diào)整觀察條件。調(diào)整所需時間的長短取決于用戶的操作熟練度，這是造成數(shù)據(jù)質(zhì)量與效率差異的因素之一。此系列產(chǎn)品標配自動調(diào)整功能，可避免人為操作導
更新時間:2025-03-15
日立大型掃描電鏡近年來為了實現(xiàn)各種材料的高功能化和高性能化，需要觀察并優(yōu)化材料的微細結(jié)構(gòu)。目sem的應用除了以往的研究開發(fā)以外，已擴展到質(zhì)量和生產(chǎn)管理方面，使用頻率日益高漲。同時市場也對儀器的操作性能提出了更高的要求，以進一步減輕操作人員的負擔 此次發(fā)
更新時間:2025-03-15
teracube thz近場顯微鏡利用高性能太赫茲探針，結(jié)合時域泵浦探測系統(tǒng)成為thz近場系統(tǒng)可以進行高分辨率的成像研究。teracube scientific和新的teracube scientific m2是全自動太赫茲近場掃描系統(tǒng)，可以在光學實驗室中運行。
更新時間:2025-03-05
日立臺式顯微鏡tm3030的開機啟動時間非常短，只需約3分鐘，而常規(guī)電子顯微鏡大約需要20分鐘的啟動時間。tm3030獨特的低真空顯微鏡功能使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。緊湊型設計意味著tm3030可以在辦公室和其他地方方便地安裝和操作。tm3030提高了圖像的分辨率，滿足了客戶尋求高分辨率、不需樣品制備的需求。通過優(yōu)化電子光學系統(tǒng)，tm3030提供了一個“5kv mode”，使得樣品表面結(jié)構(gòu)得到最好觀察，并且觀察不需要在高加速電壓下進行。
更新時間:2025-03-05
1. 優(yōu)秀的低加速電壓成像能力，1kv分辨率可達1.3nm2. 日立專利的exb設計，不需噴鍍，可以直接觀測不導電樣品3. upper探頭可選擇接受二次電子像或背散射電子像4. 可以根據(jù)樣品類型和觀測要求選擇打開或關閉減速功能5. 標配有冷指、電子槍內(nèi)置加熱器，物鏡光闌具有自清潔功能6. 儀器的烘烤維護及烘烤后的透鏡機械對中均可由用戶自行完成
更新時間:2025-03-05
1. 優(yōu)秀的低加速電壓成像能力，1kv分辨率可達1.3nm2. 日立專利的exb設計，不需噴鍍，可以直接觀測不導電樣品3. 配置lower、upper和top三個everhart-thornley型探測器4. upper和top探頭均可選擇接受二次電子像或背散射電子像5. 可以根據(jù)樣品類型和觀測要求選擇打開或關閉減速功能6. 標配有冷指、電子槍內(nèi)置加熱器，物鏡光闌具有自清潔功能7. 儀器的烘烤維護及烘烤后的透鏡機械對中均可由用戶自行完成
更新時間:2025-03-05
特點：1. 優(yōu)秀的低加速電壓成像能力，1kv分辨率可達1.3nm2. 日立專利的exb設計，不需噴鍍，可以直接觀測不導電樣品3. upper探頭可選擇接受二次電子像或背散射電子像4. 可以根據(jù)樣品類型和觀測要求選擇打開或關閉減速功能5. 標配有冷指、電子槍內(nèi)置加熱器，物鏡光闌具有自清潔功能6. 儀器的烘烤維護及烘烤后的透鏡機械對中均可由用戶自行完成
更新時間:2025-03-05
臺式掃描電鏡 2013年5月7日，日立高新技術公司推出臺式掃描電鏡tm3030。 日立高新生產(chǎn)和銷售的電子顯微鏡廣泛用于各行業(yè)的研究和開發(fā)、質(zhì)量管理等，包括納米技術和生物技術領域。臺式顯微鏡目前在全世界范圍內(nèi)廣泛使用，主要應用領域包括私營企業(yè)、政府機關、科學博物館、以及教育機構(gòu)如大學、學院、小學和初中學校。臺式
更新時間:2025-03-05
日本電子jsm-7001f熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡（thermal field emission sem），是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應用需求的理想平臺。具有大型、5軸、全對中馬達驅(qū)動自動化樣品臺,還有單動作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑，即使在大電流和低電壓時，也具有適用于eds、wds、ebsp和cl的理想結(jié)構(gòu)的擴充性。樣品室可處理直徑最大為 200mm的樣品。0755-3150
更新時間:2025-03-03
日本電子jsm-7100f獨特的高強力電子光學系統(tǒng)能保證1.2nm 的超高分辨率，能很容易地進行納米結(jié)構(gòu)的研究。
更新時間:2025-03-03
tima3 lmu/lmh feg是一款基于場發(fā)射掃描電子顯微鏡設計的集成式礦物分析專家，適用于采礦和礦物處理行業(yè)的應用。tescan的獨特技術是基于一個完全集成的edx系統(tǒng)，能以非常快的速度執(zhí)行全譜掃描，可用于礦石特性檢測、工藝優(yōu)化、修復技術和貴金屬與稀土的尋找。sem和edx硬件的集成水平實現(xiàn)了以前所未有的采集速度完全自動化的數(shù)據(jù)采集，并得到快速、準確和可靠的結(jié)果
更新時間:2025-03-03
超大樣品臺（標配，僅適用于 phenom xl）phenom xl 電鏡腔室由原來的 32 mm 擴容為 100 mm x 100 mm，一次可容納至多 36 個 1/2 英寸樣品臺樣品最大尺寸：長 100 mm；寬 100 mm；高度 65 mm用這個樣品臺可以對各種各樣的樣品成像
更新時間:2025-02-24
設計用于冶金/金相樣品的觀察（鑲嵌在樹脂里）最大尺寸：直徑32mm；高度30mm
更新時間:2025-02-24
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。基于高亮度 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)，phenom pure 的分辨率輕松達到 10 nm，同時具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點。
更新時間:2025-02-24
2020年即將到來，隨著人們生活水平的不斷提高，對雞、鴨、鵝的需求量也不斷增加，農(nóng)村飼養(yǎng)的土雞肉質(zhì)好、味道鮮，深受消費者喜歡。但由于它生長速度慢，因而養(yǎng)殖者的總體經(jīng)濟效益不高，育雛對室溫的要求比較嚴格
更新時間:2025-01-14
熱風機 燃油熱風爐主要應用于養(yǎng)殖育雛、工業(yè)廠房采暖、農(nóng)業(yè)大棚加溫，由于燃油熱風機移動方便，升溫迅速，熱風溫度穩(wěn)定，不會出現(xiàn)忽冷忽熱現(xiàn)象，機器自帶恒溫功能，當溫度到達設置溫度之后即停止耗油，低于設置溫度
更新時間:2025-01-14
日立高新分析超高分辨率肖特基熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡su-70 是一種新概念掃描電子顯微鏡。日立高新分析超高分辨率肖特基熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡su-70采用了日立經(jīng)過實地驗證的 “semi-in-lens”超高分辨率技術以及肖特基熱場發(fā)射電子槍技術。
更新時間:2024-10-25
日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000是專門為電子束敏感樣品和需最大300萬倍穩(wěn)定觀察的先進半導體器件，高分辨成像所設計。新的電子槍和電子光學設計提高了低加速電壓性能。
更新時間:2024-10-25
日立高新技術公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發(fā)售的肖特基式場發(fā)射掃描電子顯微鏡"su5000"，搭載了全新的用戶界面和"em wizard"，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。
更新時間:2024-10-25
日立高新場發(fā)射掃描電子顯微鏡su8200系列（hitachi uhr fe-sem su8200 series，su8220，su8230，su8240）采用日立高新技術公司全新開發(fā)的冷場電子槍，實現(xiàn)超高分辨率下觀察的同時，穩(wěn)定的束流亦可滿足長時間下的分析需求。在日立高新的新型冷場發(fā)射掃描電鏡(fe-sem)su8200系列中，有su8220、su8230、su8240三款機型，于5月20日開始
更新時間:2024-10-25
"regulus系列"是日立高新技術的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續(xù)機型開發(fā)的 "regulus8100" 以及su8200系列的升級 "regulus8220" "regulus8230" "regulus8240"，共4個機型，均實現(xiàn)了分辨率和操作性的強化。
更新時間:2024-10-25
日立高新超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡su8000系列（hitachi uhr fe-sem su8000 series，su8010，su8020，su8030，su8040）具有共同的卓越功能，諸如超高分辨率技術（1.3nm/1.0kv），信號探測系統(tǒng)范圍廣，可操作性強，便于用戶操作等。
更新時間:2024-10-25
可搭載的最 大樣品尺寸：“su3800” 標配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉，可應對最 大高度為80mm、重量為2kg的樣品。 “su3900”作為日立高新技術的大型掃描電鏡，標配可搭載最 大直徑300mm樣品的樣品倉，可應對最 大高度為130mm、重量為5kg(比前代機型提高2.5倍*2)的樣品
更新時間:2024-10-25
在以納米技術和生物技術為主的產(chǎn)業(yè)領域里，從物質(zhì)的微細結(jié)構(gòu)到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應用。sem用途日益擴大，但對于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車零配件等超大/超重樣品，由于電鏡樣品臺能對應的樣品尺寸和重量受到限制，所以觀察時需要進行切割等加工。因此，對超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細形貌和進行各種分析則成為重要的課題。
更新時間:2024-10-25
日立新一代全數(shù)字化120kv透射電子顯微鏡ht7800，屬于日立瑠璃系列產(chǎn)品ruli tem，操作的一體化和自動化程度都有明顯提高。ht7800系列產(chǎn)品有兩個型號ht7800和ht7830。
更新時間:2024-10-25
“tm4000”和“tm4000plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認到生成報告等一系列操作過程，大幅提高了工作效率。還標配了報告生成功能，觀察結(jié)束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的報告。此外，選配項還可實現(xiàn)更多功能。可在樣品倉內(nèi)加裝光學相機來拍攝照片，以往通過經(jīng)驗尋找目標位置*1，現(xiàn)在可在顯示屏上直接操作。在拍攝sem圖像時，由于“tm4000”和“tm4000plus”配置雙軸馬達臺*2，原來需手動調(diào)整的操作，現(xiàn)在只需在顯示器上選擇要觀察的位置即可。
更新時間:2024-10-25
此次推出的su7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。以前我們要根據(jù)不同的觀察信號來調(diào)整樣品與透鏡之間的距離（工作距離／以下簡稱wd），以獲得最佳的觀察與分析條件，而su7000通過新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統(tǒng)，可在同樣的wd的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時間，提高了測試效率。 而且，su7000還配置了可同時6通道顯示界面（前代機型只能同時顯示4通道），進一步升級電鏡控制系統(tǒng)，大幅提高了信號獲取速度，由此實現(xiàn)了樣品的高效率觀察。它還標配超大樣品倉，增設了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析
更新時間:2024-10-25
最新產(chǎn)品
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