掃描電子顯微鏡（SEM）產品及廠家
要特點：1.fei esem(環境掃描電鏡)技術, 可在高真空、低真空和環境真空條件下對各種樣品進行觀察和分析。2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微觀分析。3.先進的系統結構平臺，全數字化系統。
更新時間:2025-04-03
verios xhr semverios 是 fei ling先的 xhr（極高分辨率）sem 系列的第二代產品。在jian端半導體制造和材料科學應用中，它可在 1 至 30 kv 范圍內提供亞納米量級分辨率以及增強的對比度，滿足材料精密測量所需，同時又不會削弱傳統掃描電子顯微鏡 (sem) 所具有的高吞吐量、分析能力、樣本靈活性和易用性等優勢。verios 的生命科學應用觀測敏感的生物樣本時，
更新時間:2025-04-03
飛納高分辨率專業版 phenom pro 是飛納電鏡系列中最先進的產品，第四代 phenom pro 放大倍數提升為 130,000 倍，分辨率優于 14 nm，30 秒快速得到表面細節豐富的高質量圖像，是目前世界上分辨率最高的臺式掃描電鏡，可用于測量亞微米或納米尺度的樣品；飛納高分辨率專業版 phenom pro 繼承了飛納電鏡系列高分辨率、15 秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、全自動操作、2-3 年更換燈絲及防震設計等優點。
更新時間:2025-04-03
蔡司 sigma高分辨率場發射掃描電子顯微鏡采用成熟的gemini光學系統設計，分辨率超過0.8nm，為您提供zui高分辨率和*分析性能科研平臺。sigma500/vp專注于*的eds幾何學設計使您可
更新時間:2025-04-03
蔡司 evo ma鎢燈絲掃描電子顯微鏡將鎢燈絲掃描電鏡的發展帶入了全新的時代，超大樣品室為各類繁雜的樣品以及繁重的工作提供了輕松的解決方案，自動化的5軸樣品臺和大的x、y、z軸跟蹤掃描以及可變壓力的檢
更新時間:2025-04-03
fei sem apreo 掃描電子顯微鏡革命性的復合透鏡設計結合了靜電和磁浸沒技術，可產生*的高分辨率和信號選擇。這使得 apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且不會降低
更新時間:2025-04-03
fei magellantm系列掃描電子顯微鏡界： 高靈敏的表面圖像、以及俯視或從其它角度觀看圖像，分辨率可達到一納米以下。 這款電鏡上的一些重要突破在于它鏡筒上采用了革命性的單色槍技術,它使顯微學家
更新時間:2025-04-03
fei quanta系列 掃描電子顯微鏡包括6個變量的壓力和環境掃描電子顯微鏡（esem™）和兩個dualbeam™系統，所有這些都可以容納多個樣品和工業過程控制實驗室，材料科
更新時間:2025-04-03
fei nova nano sem 場發射掃描電子顯微鏡該產品是世界上*款可以對有機材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進行超高分辨表征的低真空場發射掃描電子顯微
更新時間:2025-04-03
fei inspect系列 掃描電子顯微鏡滿足傳統高分辨率樣品研究所需的一切，簡單易用的 inspecttm 專為滿足研究各類材料以及表征材料結構和成分的主流需求而設計，配備高穩定分辨率平臺，可滿足大
更新時間:2025-04-03
fei verios xhr sem 掃描電子顯微鏡是 fei *的 xhr（*分辨率）sem 系列的第二代產品。在*半導體制造和材料科學應用中，它可在 1 至 30 kv 范圍內提供亞納米量級分辨率
更新時間:2025-04-03
蔡司 gemini sem場發射掃描電子顯微鏡二十多年來，基于日漸完善的gemini技術，geminisem具有完整高效的檢測系統、*的分辨率以及簡便的操作方式。gemini物鏡設計將靜電場與磁場結合
更新時間:2025-04-03
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