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Apreo FEI Apreo 場發射掃描電子顯微鏡

apreo 復合透鏡設計結合了靜電和磁浸沒技術，可產生前所未有的高分辨率和信號選擇。這使得 apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且不會降低磁性樣品性能。apreo 受益于獨特的透鏡內背散射探測，這種探測提供卓越的材料對比度，即使在傾斜、工作距離很短或用于敏感樣品時也不例外。新型復合透鏡通過能量過濾進一步提高了對比度并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過濾。可選低真空模式，現在的zui大樣品倉壓力為 500 pa，可以對要求zui嚴苛的絕緣體進行成像。通過這些優勢（包括復合末級透鏡、高級探測和靈活樣品處理），apreo 可提供出色的性能和多功能性，幫助您應對未來的研究難題。

更新時間:2025-04-03

該公司產品分類：上海禹重實業有限公司

Talos F200系列FEI Talos F200系列透射電子顯微鏡

fei talos f200x 融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 (stem) 和 tem 成像功能與行業ling先的能量色散 x 射線光譜儀 (eds) 信號檢測功能及基于成分測繪的三維化學表征功能。talos f200x 可在所有維度 (1d-4d) 下實現zui快速、zui精確的 eds 分析，以及zui好且支持快速導航的動態顯微鏡 hrtem 成像。fei talos f200x 融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 (stem) 和 tem 成像功能與行業ling先的能量色散 x 射線光譜儀 (eds)。talos f200s 在 stem 成像上具有極大的多功能性和極高的通量。它可以為動態顯微鏡實現zui精確的 eds 分析和zui好的 hrtem。與此同時，fei talos f200s 還提供zui高的穩定性和最長的正常運行時間。

更新時間:2025-04-03

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Quanta 250/450/650FEI Quanta系列環境掃描電子顯微鏡

要特點：1.fei esem(環境掃描電鏡)技術, 可在高真空、低真空和環境真空條件下對各種樣品進行觀察和分析。2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微觀分析。3.先進的系統結構平臺，全數字化系統。

更新時間:2025-04-03

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Verios XHR SEMFEI Verios XHR SEM 掃描電子顯微鏡

verios xhr semverios 是 fei ling先的 xhr（極高分辨率）sem 系列的第二代產品。在jian端半導體制造和材料科學應用中，它可在 1 至 30 kv 范圍內提供亞納米量級分辨率以及增強的對比度，滿足材料精密測量所需，同時又不會削弱傳統掃描電子顯微鏡 (sem) 所具有的高吞吐量、分析能力、樣本靈活性和易用性等優勢。verios 的生命科學應用觀測敏感的生物樣本時，

更新時間:2025-04-03

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Phenom Pro飛納 Phenom Pro 全自動臺式掃描電子顯微鏡

飛納高分辨率專業版 phenom pro 是飛納電鏡系列中最先進的產品，第四代 phenom pro 放大倍數提升為 130,000 倍，分辨率優于 14 nm，30 秒快速得到表面細節豐富的高質量圖像，是目前世界上分辨率最高的臺式掃描電鏡，可用于測量亞微米或納米尺度的樣品；飛納高分辨率專業版 phenom pro 繼承了飛納電鏡系列高分辨率、15 秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、全自動操作、2-3 年更換燈絲及防震設計等優點。

更新時間:2025-04-03

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