其他產品及廠家
面對材料因結露、吸濕、電場環境等因素造成的絕緣不佳現象暨離子遷移現象，設備可有效簡便評估因老化腐蝕現象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。試驗系統能夠模擬各式工業制品、零部件以及原材料在實際生產、使用、儲存和運輸過程中的高壓伴隨著低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、溫度變化速度快、溫度循環等環境因素中受的影響，以測試其功能、性能及壽命的完整性和牢靠性。
更新時間:2025-04-09
hcyd高溫壓電系數測試儀采用fpga數字技術為激振器提供穩定的測試頻率，配合聲學與振動公司b&k生產的激振器作為振源，相對傳統的d33測量儀測量精度更高，測量量程更寬，可靠性更高，操作更簡單。儀器可以直接分析得出樣品壓電常數d33隨溫度變化的壓電溫譜圖，可廣泛用于壓電材料（壓電陶瓷、高分子）、鐵電材料以及相關器件性能。
更新時間:2025-04-09
hcyd高溫壓電系數測試儀采用fpga數字技術為激振器提供穩定的測試頻率，配合聲學與振動公司b&k生產的激振器作為振源，相對傳統的d33測量儀測量精度更高，測量量程更寬，可靠性更高，操作更簡單。儀器可以直接分析得出樣品壓電常數d33隨溫度變化的壓電溫譜圖，可廣泛用于壓電材料（壓電陶瓷、高分子）、鐵電材料以及相關器件性能。
更新時間:2025-04-09
hcyd高溫壓電系數測試儀采用fpga數字技術為激振器提供穩定的測試頻率，配合聲學與振動公司b&k生產的激振器作為振源，相對傳統的d33測量儀測量精度更高，測量量程更寬，可靠性更高，操作更簡單。儀器可以直接分析得出樣品壓電常數d33隨溫度變化的壓電溫譜圖，可廣泛用于壓電材料（壓電陶瓷、高分子）、鐵電材料以及相關器件性能。
更新時間:2025-04-09
1.鐵電的評價與測試2.壓電材料的評價與測試3.壓電陶瓷的評價與測試4.高分子的評價與測試5.相關器件性能的評價與測試
更新時間:2025-04-09
1.鐵電的評價與測試2.壓電材料的評價與測試3.壓電陶瓷的評價與測試4.高分子的評價與測試5.相關器件性能的評價與測試
更新時間:2025-04-09
huace650t高低溫冷熱臺（可定制）由華測儀器多位工程師多年開發，冷熱臺可配合阻抗分析儀、高阻計、電化學工作站、數字原表設備進行功能材料電學的相關測試，采用直接聯接測試儀表以減少測試導線的影響，同時電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網諧波對測量儀表的干擾。
更新時間:2025-04-09
華測儀器的hc-rd-1100可以同時測定樣品在rt至1500°c溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率。熱功率、熱電勢、或塞貝克系數描述的都是材料在一定溫差條件下產生感應熱電電壓的大小，單位是v/k。
更新時間:2025-04-09
華測儀器的hc-rd-1100可以同時測定樣品在rt至1500°c溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率。熱功率、熱電勢、或塞貝克系數描述的都是材料在一定溫差條件下產生感應熱電電壓的大小，單位是v/k。
更新時間:2025-04-09
華測儀器的hc-rd-1100可以同時測定樣品在rt至1500°c溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率。熱功率、熱電勢、或塞貝克系數描述的都是材料在一定溫差條件下產生感應熱電電壓的大小，單位是v/k。
更新時間:2025-04-09
絕緣材料電阻評價平臺運用三電極法設計原理測量。該儀器設計符合gb/t 31838.2-2019、gb/t31838.7-2021標準設計開發，并參考美國astm標準(d257、d1829)。利用獨特的電阻測試系統，重復性與穩定性更好，提升了夾具的抗干擾能力，同時大大提高精確度,可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。
更新時間:2025-04-09
一、產品概述面對材料越來越小型輕量及高密度封裝，因結露、吸濕、電場環境等因素造成的絕緣不良現象暨離子遷移現象日益突出，長期電化學腐蝕平臺，可高精度連續試驗，gao效簡便評估因老化腐蝕現象引起的
更新時間:2025-04-09
huace fe-3000鐵電分析儀有著寬頻率響應范圍及寬測試電壓范圍，該系統可廣泛地應用于如各類鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的研究。采用模塊化設計的huace fe-3000具有強大擴展性。在鐵電測試領域其高測試精度能力，在±200v的內置電壓下，電滯回線測試頻率可高達270khz。
更新時間:2025-04-09
華測超高速鐵電材料高壓放大器系列，是以我公司關于高電壓的多年經驗和經驗為基礎而完成的，架式高速高電壓的運算放大器電源。zui高100khz的高速響應，可以在與輸入波形成比例的正弦波、三角波、鋸波和矩形波中進行高電壓輸出。從輸出電壓600v到20kv共19機種。
更新時間:2025-04-09
華測絕緣材料電阻評價平臺，針對絕緣材料電阻評價平臺做了安全設計，測試過程中在過電壓、過電流、超溫等異常情況下以保證測試過程的安全；資料保存機制，當遇到電腦異常或瞬時斷電時，可將資料保存于控制器中，不丟失試驗數據，設備重新開啟后可恢復原有試驗數據。
更新時間:2025-04-09
華測ha系列高壓電源是高性能機箱式高壓電源，hchv系列具有完善的保護系統？蛇b控或本地控制，面板有電壓、電流顯示，高壓輸入端過壓、過流、短路保護、拉弧、過溫保護和安全鎖等功能。寬范圍調整和靈活的多項可選功能。hchv系列是種高性能、可 靠性、高品質的直流高壓電源。更適合材料電學高壓試驗與材料檢測。
更新時間:2025-04-09
huace fe系列鐵電測試系統，有著寬頻率響應范圍及寬測試電壓范圍，在±500v內置電壓下，電滯回線測試頻率可高達500khz；此系統包含huacepro基本鐵電管理測試軟件。此外還可外部擴展電壓到4kv、10kv、20kv，huace fe主機在不改變樣品連接的情況下可執行電滯回線，脈沖，漏電流，iv、cv、擊穿測試，也可加載選件實現壓電、熱釋電、tsdc和電卡、阻抗分析、電阻測量等特性測試
更新時間:2025-04-09
huace-dcs10kv電介質充放電測試系統主要用于研究介電儲能材料高電壓放電性能。目常規的方法是通過電滯回線計算高壓下電介質的能量密度，測試時，樣品的電荷是放回到高壓源上，而不是釋放到負載上，通過電滯回線測得的儲能密度一般會大于樣品實際釋放的
更新時間:2025-04-09
kt-z160t-rl該探針臺的承載臺為60x60不銹鋼臺面，臺面最高可升溫到最高400℃。低溫-190°c。真空腔體設計有進氣口和抽真空接口。探針臂為x/y/z三軸移動，三個方向均可在真空環境下精密移位調節，用戶可根據需要自行調節。使用時將需檢測的器件固定在加熱臺上，再微調探針支架x/y/z 方向行程，通過顯微鏡觀察，使探針對準檢測點后，即可進行檢測。
更新時間:2025-04-09
日本rigaku x射線熒光分析儀 waferx 310, 通過x射線以大角度照射在鍍膜的硅片樣品上,產生鍍膜 樣品的相應特征x射線的方法，進而分析測量硅片樣品的 鍍膜厚度。
更新時間:2025-04-09
硅片金屬雜質分析系統 expert,全自動汽車掃描系統與真空二次離子質譜法（vpd-icp-ms）結合，為硅片金屬雜質分析提供了高效的解決方案。系統具備多個型號，包括適用于實驗室和工廠自動化的expert_lab、expert_ps和expert_fab。這些系統支持多種掃描模式，如全掃描、徑向掃描和傾斜掃描，可實現從大容量蝕刻到深度輪廓測量的全 面分析。
更新時間:2025-04-09
lagm激光剝蝕多通道原子吸收光譜系統采用飛秒激光和電流計鏡，可精確燒蝕 300 毫米晶圓樣品，無需小型封閉腔室。系統配備雙注射器模型 msag_ds，支持標準加入法進行定量分析，具備點和面傾斜度、輪廓及雜質分析功能。系統能全自動操作，支持多種分析模式如全掃描、斑點、直線、塊模式及深度剖面模式，適用于晶圓和非晶圓樣品的全 面分析。
更新時間:2025-04-09
msag金屬標準氣霧劑生成系統，是一種用于納米顆粒分析及直接氣體分析的重要工具，尤其適用于電感耦合等離子體質譜法（icp-ms）。該設備能夠以0至3μl/min的速度將混合金屬標準溶液引入霧化器，確保了高靈敏度和準確性。通過msgg裝置監測icp-ms靈敏度變化，并利用鉬氣態標準作為內標。
更新時間:2025-04-09
csi 連續化學品檢測系統：化學敏感儀器監測半導體晶圓廠使用的化學物質，通過連續化學采樣檢測（csi）系統監測微量金屬雜質，以避免器件故障。系統采用電感耦合等離子體質譜儀（icp-ms）對化學品進行24/7的連續監測，包括液相（lt）和氣溶膠相（at）兩種樣品運輸方式。l
更新時間:2025-04-09
化學分析實驗室采用連續化學采樣檢測系統（csi）監測半導體工藝中的化學品，以檢測微量金屬雜質。該系統使用電感耦合等離子體質譜儀（icp-ms）進行24/7的連續監測，確；瘜W品在運輸和更換過濾器過程中不受污染。在線接口軟件（ois）控制閥門、自動進樣器和icp-ms，實現自動校準和質量控制。該系統能夠生成濃度和計數趨勢圖，并具備自動重新分析功能。
更新時間:2025-04-09
氣體電離探測器（ged）是一種用于測量氣體中金屬顆粒濃度的技術，尤其適用于半導體行業中特殊氣體的分析。該系統通過一個高效的膜來交換氣體，使得樣品氣體中的金屬顆粒能在無需預處理的情況下直接引入到電感耦合等離子體質譜儀（icp-ms）中進行高靈敏度分析。
更新時間:2025-04-09
asas ii自動化標準添加系統通過自動制備校準標準溶液，提升了電感耦合等離子體（icp）分析的效率與精度。該系統采用非接觸式光流傳感器和高精度注射泵，實現微量標準溶液的精 準添加。其無閥門設計及全氟聚合物材質確保了系統的高效與耐用性。
更新時間:2025-04-09
自動進樣稀釋模塊asdm專為icp自動進樣器設計，支持2至1000倍的樣品溶液稀釋，配備兩種型號以適應不同溶液類型。該模塊可自動添加標準溶液，并能同時清洗稀釋探頭及準備下一個稀釋樣品。asdm提供10ml注射器進行2-20倍稀釋，或兩支注射器進行50-1000倍稀釋。
更新時間:2025-04-09
德國eberl 多波束電子束 octoplus 1000, 用于大 12 英寸基底 sige 外延生長的 mbe 系統
更新時間:2025-04-09
德國 eberl 的多波束電子束octoplus 1000系統，專為最大12英寸sige外延生長設計，適用于mbe（分子束外延）工藝。該系統提供高效、高精度的沉積技術，確保高質量薄膜的生長，廣泛應用于半導體制造領域。
更新時間:2025-04-09
. 在垂直入射角的無接觸、光學反射測量，表征薄膜和大塊材料.光譜范圍從200到1000 nm. 功能強大的、獨特的分析軟件包ftpadv expert. 高穩定的氘燈和鹵素鎢燈光源. 高精度的樣品準直，帶光學自動準直透鏡act和顯微鏡
更新時間:2025-04-09
盒式裝載紫外線臭氧清洗設備 uv-300hc雙盒式生產系統，是一款高性能的盒式裝載uv臭氧清洗機，用于生產。這個系統有2個裝載盒，可以達到200-300nm/min的高灰化率。該系統利用紫外線照射、高濃度臭氧和可控階段加熱的獨特組合，溫和而有效地去除硅、玻璃、化合物半導體（gan、sic、gaas和inp）、藍寶石、陶瓷等各種基材上的有機物。
更新時間:2025-04-09
紫外線臭氧清洗機 uv-300h，200 - 300 nm/min的高灰化率,是一款高性能的緊湊型紫外線臭氧清洗機。通過滑動抽屜將基材裝入系統中。紫外線照射、高濃度臭氧和階段性加熱的獨特組合，可溫和而有效地去除硅、玻璃、化合物半導體（gan、sic、gaas、inp）、藍寶石、陶瓷等各種基材上的有機物。
更新時間:2025-04-09
日本samco紫外臭氧清洗機 uv-1, 是一款緊湊型臺式紫外線臭氧清洗機。該系統將紫外線照射、臭氧和平臺加熱獨特地結合在一起，溫和而有效地去除硅、玻璃、化合物半導體（gan、gaas、inp、sic）、藍寶石、陶瓷等各種基材上的有機物。
更新時間:2025-04-09
mosfet參數測試設備：靜態參數測試（包括igss / bvr / vds（sat） / idss / vgsth / vf / rds（on））；動態參數（開通關斷/反向恢復/短路/安全工作區
更新時間:2025-04-09
一、產品簡介雪崩能量測試臺，是門設計測試igbt、二管、mos管測試設備，對于那些在應用過程中功率器件兩端產生較大電壓的尖峰應用，就要考慮器件的雪崩能量，電壓的尖峰所集中的
更新時間:2025-04-09
一. 功能簡介全動態測試的基本原理是在一個工頻半周內對被測元件施加半波電流，電流的平均值由元件的額定電流值決定，而在另一個半周內施加正向或反向的正弦半波阻斷電壓，測量它的動態阻斷伏安特性，它模擬了
更新時間:2025-04-09
一、產品簡介該測試系統是晶閘管靜態參數檢驗測試中不可缺少的用測試設備。 該套測試設備主要有以下幾個單元組成：1)門觸發參數測試單元2)維持電流測試單元3)阻斷參數測試單元4)通態壓降參數測試單元5)電壓上升率參數測試單元6)擎住電流7)門電阻8)計算機控制系統9)合格證標簽打印10)夾具單元；包含平板夾具和模塊夾具
更新時間:2025-04-09
一、產品簡介浪涌電流測試儀，是二管等相關半導體器件測試的重要檢測設備，該設備具有如下特點：1、該系統的測試控制完全采用自動控制，測試可按測試員設定的程序進行自動測試。2、該系統采用計算機記錄測試結果，并可將測試結果轉化為excel文件進行處理。3、該套測試設備主要由以下幾個單元組成： a、浪涌測試單元 b、阻斷參數測試單元 c、計算機控制系統
更新時間:2025-04-09
阻斷特性測試儀的測試原理：符合國際及行業相關標準，可對大功率半導體器件（含晶閘管）進行阻斷特性的測試。測試電壓和漏電流值采用實時數字顯示，便于數據的觀察和記錄。采用手動調壓器加壓模式，可實
更新時間:2025-04-09
本公司生產的實用新型公開了一種自動壓力機夾具,包括水平設置在壓力機上的多對夾臂,在所述每對夾臂相對的夾持面上均設置有橡膠墊.本實用新型優點在于將夾臂的夾持面上設置有橡膠墊,這樣當夾具夾持耐火磚時由于有橡膠墊的緩沖,不僅能夠方便的夾取磚體,而且對耐火磚起到一定的保護作用,有效防止了耐火磚夾裂或夾破,大大減少了耐火磚的破損率.
更新時間:2025-04-09
產品介紹交流阻斷（或反偏）耐久性試驗是在一定溫度下，對半導體器件施加阻斷（或反偏）電壓，按照規定的時間，從而對器件進行質量檢驗和耐久性評估的一種主要試驗方法。 一般情況下
更新時間:2025-04-09
一、產品簡介該測試系統是晶閘管靜態參數檢驗測試中不可缺少的用測試設備。該套測試設備主要有以下幾個單元組成：1)門觸發參數測試單元2)維持電流測試單元3)阻斷參數測試單元4)通態壓降參數測試單元5)電壓上升率參數測試單元6)擎住電流7)門電阻8)計算機控制系統9)合格證標簽打印10)夾具單元；包含平板夾具和模塊夾具
更新時間:2025-04-09
一、產品介紹浪涌電流測試儀，是二管等相關半導體器件測試的重要檢測設備，該設備具有如下特點：1、該系統的測試控制完全采用自動控制，測試可按測試員設定的程序進行自動測試。2、該系統采用計算機記錄測試結果，并可將測試結果轉化為excel文件進行處理。3、該套測試設備主要由以下幾個單元組成： a、浪涌測試單元 b、阻斷參數測試單元 c、計算機控制系統
更新時間:2025-04-09
introspect i3c exerciser and analyzer測試解決方案：推出在同一個硬件上能同時支持i3c exerciser and analyzer功能的廠商，支持i3c cts測試，向下兼容i2c,支持模擬多個i3c master和i3c slave裝置測試；支持故障注入如crc, ack/nack錯誤
更新時間:2025-04-08
introspect i3c exerciser and analyzer測試解決方案：i3c exerciser and analyzer測試解決方案,推出在同一個硬件上能同時支持i3c exerciser and analyzer功能的廠商，支持i3c cts測試，向下兼容i2c,支持模擬多個i3c master和i3c slave裝置測試；支持故障注入如crc, ack/nack錯誤
更新時間:2025-04-08
gddr7 memory test system：massively parallel, 72-channel, 40 gbps pam3 ate-on-bench test system enables the fastest time to market for memory and gpu makers alike.introspect gddr7測試解決方案
更新時間:2025-04-08
dp/edp generator信號發生器（pattern generator）支持目業界新的dp2.0/edp v1.5 的速率，支持多通道測試，是業界唯一能夠同時支持從物理層至協議層功能性測試的解決方案，支持psr/psr2, alpm, 抖動注入、skew、電壓幅值、時序等相關功能的測試驗證。
更新時間:2025-04-08
最新產品
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