BX610-T-112防腐層測(cè)厚儀,鍍層厚度測(cè)量?jī)x
* 具有自動(dòng)識(shí)別被測(cè)基體的材質(zhì)。
* 有單次和連續(xù)兩種測(cè)量方式可選。
* 操作過(guò)程中有蜂鳴器提示音，連續(xù)測(cè)量時(shí)蜂鳴器不發(fā)聲。
* 采用USB數(shù)據(jù)線輸出與PC通訊。
* 提供藍(lán)牙Bluetooth數(shù)據(jù)輸出選擇。
主要內(nèi)容：
防腐層測(cè)厚儀是一種便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量；既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)；廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)域；是材料保護(hù)專業(yè)德杜的儀器。
技術(shù)參數(shù)：
| 分辨率 | 0.01mm / 0.1mm |
| 準(zhǔn)確度 | ±（1~3%n)或±0.2mm |
| 測(cè)試范圍 | 0~12mm（測(cè)量范圍可定制） |
| 測(cè)量方法 | F磁感應(yīng) |
| 操作條件 | 溫度-5~50°C 濕度＜95%RH |
| 電源 | 4x1.5AAA 7號(hào)電池 |
| 主機(jī)尺寸 | 140x70x30mm |
| 主機(jī)重量 | 130g （不含電池） |
產(chǎn)品配件
|
標(biāo)準(zhǔn)配件 |
主機(jī) |
| 鐵基（1塊） | |
| 校準(zhǔn)膜片（1套） | |
| 測(cè)量傳感器 | |
| 手提便攜箱 | |
| 操作說(shuō)明書(shū) | |
| 可選配件 | USB數(shù)據(jù)線輸出 |
| 藍(lán)牙Bluetooth數(shù)據(jù)輸出 |
MTSY-8型陶瓷磚厚度測(cè)量?jī)x簡(jiǎn)介
| 規(guī) 格 | 最大測(cè)量范圍（長(zhǎng)×寬） | 最大測(cè)量厚度 |
| CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
| CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
CHD-600陶瓷磚厚度測(cè)量?jī)x
| 產(chǎn)品簡(jiǎn)介： | |||||||||
| CHD型陶瓷磚厚度測(cè)量?jī)x（以下簡(jiǎn)稱測(cè)厚儀）是用于測(cè)量普通量具無(wú)法測(cè)量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器，也可用于測(cè)量其它材料（如大理石板材、石膏板材等）產(chǎn)品厚度的測(cè)量。該測(cè)厚儀采用百分表進(jìn)行測(cè)量，具有精度高、讀數(shù)、操作簡(jiǎn)便、攜帶方便等優(yōu)點(diǎn)，是有關(guān)生產(chǎn)廠家與質(zhì)檢單位的良好儀器。 主要技術(shù)參數(shù) 1.測(cè)厚儀的精度：±0.1mm 2.測(cè)厚儀的測(cè)量范圍：
|
空間分辨率達(dá)50微米晶圓厚度測(cè)量?jī)x
晶圓測(cè)厚儀,晶圓厚度測(cè)試儀,硅片測(cè)厚儀,硅片厚度測(cè)量?jī)x采用非接觸式測(cè)量方法，對(duì)晶圓的厚度和表面形貌進(jìn)行測(cè)量，可廣泛用于：MEMS， 晶圓，電子器件，膜厚，激光打標(biāo)雕刻等工序或器件的測(cè)量。更多表面殘留檢測(cè)儀器請(qǐng)瀏覽：http://www.f-lab.cn/surface-residue.html中國(guó)領(lǐng)先的進(jìn)口精密儀器供應(yīng)商！
Email: info@felles.cn 或 felleschina@outlook.comWeb: www.felles.cn （激光光學(xué)精密儀器網(wǎng)） www.felles.cc （綜合性尖端測(cè)試儀器網(wǎng)） www.f-lab.cn （綜合性實(shí)驗(yàn)室儀器網(wǎng)）該晶圓測(cè)厚儀,晶圓厚度測(cè)量?jī)x,硅片測(cè)厚儀,硅片厚度測(cè)量?jī)x專業(yè)為掩膜，劃線的晶圓，粘到藍(lán)寶石或玻璃襯底上的晶圓等各種晶圓的厚度測(cè)量而設(shè)計(jì)，同時(shí)，還適合50-300mm 直徑的晶圓的表面形貌測(cè)量。
該晶圓測(cè)厚儀,晶圓厚度測(cè)量?jī)x,硅片測(cè)厚儀,硅片厚度測(cè)量?jī)x采用紅外干涉技術(shù)，能夠精確給出襯底厚度和厚度變化 （TTV），也能實(shí)時(shí)給出超薄晶圓的厚度（掩膜過(guò)程中的晶圓），非常適合晶圓的研磨、蝕刻、沉淀等應(yīng)用。這種紅外干涉技術(shù)具有獨(dú)特優(yōu)勢(shì)，諸多材料例 如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在紅外光束下都是透明的，非常容易測(cè)量，標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量空間分辨率可達(dá)50微米，更小的測(cè)量點(diǎn)也可以做到。
該晶圓測(cè)厚儀,晶圓厚度測(cè)量?jī)x,硅片測(cè)厚儀,硅片厚度測(cè)量?jī)x具有探針系統(tǒng)配件，使用該探針系統(tǒng)后，可以高精度地測(cè)量圖案化晶圓,帶 保護(hù)膜的晶圓, 鍵合晶圓和帶凸點(diǎn)晶圓（植球晶圓），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。
該晶圓測(cè)厚儀,晶圓厚度測(cè)量?jī)x,硅片測(cè)厚儀,硅片厚度測(cè)量?jī)x直接而精確地測(cè)量晶圓襯底厚度和厚度變化TTV，同時(shí)該晶圓測(cè)厚儀能夠測(cè)量晶圓薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness） 和凸點(diǎn)厚度（wafer pump height）.，溝槽深度 （trench depth）.詳情瀏覽：http://www.f-lab.cn/surface-residue.html孚光精儀是全球領(lǐng)先的進(jìn)口科學(xué)儀器和實(shí)驗(yàn)室儀器領(lǐng)導(dǎo)品牌服務(wù)商，產(chǎn)品技術(shù)和性能保持全球領(lǐng)先,擁有包括表面殘留檢測(cè)儀器在內(nèi)的全球最為齊全的實(shí)驗(yàn)室和科學(xué)儀器品類，世界一流的生產(chǎn)工廠和極為苛刻嚴(yán)謹(jǐn)?shù)馁|(zhì)量控制體系，確保每個(gè)一產(chǎn)品是用戶滿意的完美產(chǎn)品。我們海外工廠擁有超過(guò)3000種儀器的大型現(xiàn)代化倉(cāng)庫(kù)，可在下單后12小時(shí)內(nèi)從國(guó)外直接空運(yùn)發(fā)貨，我們位于天津保稅區(qū)的進(jìn)口公司眾邦企業(yè)（天津)國(guó)際貿(mào)易公司為客戶提供全球零延誤的進(jìn)口通關(guān)服務(wù)。
Thick800a電鍍層厚度測(cè)量?jī)x
1）磁性測(cè)厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量.導(dǎo)磁材料般為:鋼\\鐵\\銀\\鎳.此種方法測(cè)量精度高,FT220涂層測(cè)厚儀
2）渦流測(cè)厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量.此種方法較磁性測(cè)厚法精度高，NT230涂層測(cè)厚儀。
3）超聲波測(cè)厚法:目前內(nèi)還沒(méi)有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的,外個(gè)別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合.但般價(jià)格昂貴，測(cè)量精度也不高.
4）電解測(cè)厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無(wú)損檢測(cè),需要破壞涂鍍層.般精度也不高.測(cè)量起來(lái)較其他幾種麻煩
5）X射線測(cè)厚法:此種儀器價(jià)格非常昂貴（般在十幾萬(wàn)RMB以上）,適用于些特殊場(chǎng)合.
性能特點(diǎn)
1、上照式
2、測(cè)試組件可升降
3、高精度移動(dòng)平臺(tái)
4、小準(zhǔn)直器
5、高分辨率探頭
6、可視化操作
7、自動(dòng)定位高度
8、自動(dòng)尋找光斑
9、鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)
10、良好的射線屏蔽
11、超大樣品腔設(shè)計(jì)
12、測(cè)試口安防護(hù)
性能特點(diǎn)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
技術(shù)指標(biāo)
型號(hào)：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
標(biāo)準(zhǔn)配置
開(kāi)放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
應(yīng)用領(lǐng)域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。
CHY-10塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x（千分或百分測(cè)量）
商品描述：
一、設(shè)備名稱：塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x（千分或百分測(cè)量） 型號(hào)：CHY-10
二、設(shè)備用途: 本儀器是采用高精度數(shù)顯千分表測(cè)量塑料薄膜及薄片的專用儀器。具有測(cè)量精度高、數(shù)據(jù)穩(wěn)定等特點(diǎn)，同時(shí)還可進(jìn)行英吋和毫米之間變換。
三、主要技術(shù)指標(biāo): 1測(cè)量精度 ： 0.001mm/0.0005″ 2測(cè)量范圍 ： 0―10mm/0.2″
四、安裝方法: 1將底座從包裝中拿出,放于平穩(wěn)平面上. 2調(diào)整調(diào)整螺釘,使其處于水平位置. 3將千分表取出安裝在千分表支架上,并調(diào)整好上下測(cè)量塊,使其間隙為零. 4將千分表支架安裝在底座上的固定槽內(nèi),并用鎖緊手柄鎖緊.
五、使用方法： 用鋼絲軸將千分表測(cè)量頭抬起幾次后,將千分表值清零（按千分表上的”0”鈕）.然后將測(cè)量頭抬起,把被測(cè)試樣放在下測(cè)量面上，將測(cè)量頭放下，這時(shí)千分表上的值即為被測(cè)試樣厚度值.（如果沒(méi)有試樣時(shí),表上仍有讀數(shù),則看測(cè)量面上是否有臟東西,如有則用柔軟干凈的布將其擦掉,如果沒(méi)有則直接按千分表”0”鈕清零即可。
山東棗莊標(biāo)智GM130超聲波測(cè)厚儀 厚度儀 厚度測(cè)量?jī)x
*精確度：±（1%H+0.1）毫米
*分辨率：0.01mm
*聲速范圍：1000~9999m/s
*工作頻率：5MHz
*管材測(cè)量下限：
Φ10mm探頭：Φ20*3mm（鋼）
Φ6mm探頭：Φ12*2mm（鋼）
*自動(dòng)校對(duì)零點(diǎn)，可對(duì)系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正
*線性自動(dòng)補(bǔ)償，在全范圍內(nèi)利用計(jì)算機(jī)軟件對(duì)探頭非線性誤差進(jìn)行修正，以提高準(zhǔn)確度
*數(shù)據(jù)儲(chǔ)存/數(shù)據(jù)查詢/數(shù)據(jù)刪除功能
*測(cè)量聲速：根據(jù)樣塊厚度直接測(cè)出其聲速
*公英制轉(zhuǎn)換
*低電指示功能
*自動(dòng)關(guān)機(jī)功能
*LCD背光燈功能
*保修期：12個(gè)月
*包裝方式：彩盒+PP工具盒
*電源：3節(jié)1.5V AAA電池
*產(chǎn)品凈重：230克
*產(chǎn)品尺寸：70*145*28毫米
本測(cè)厚儀采用脈沖反射超聲波測(cè)量原理，適用于超聲波能以一恒定速度在其內(nèi)部傳播,并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測(cè)量。此儀器可對(duì)各種板材和各種加工零件作精確測(cè)量。可廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。
濟(jì)南興拓檢測(cè)儀器有限公司(www.xingtuo1718.com)是“科電”產(chǎn)品駐山東辦事處。借鑒國(guó)內(nèi)外儀器行業(yè)的先進(jìn)經(jīng)驗(yàn)和技術(shù),追求人有我優(yōu)、人無(wú)我有的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)理念;經(jīng)過(guò)多年的發(fā)展已陸續(xù)推廣多種儀器。檢測(cè)儀器產(chǎn)品包含:里氏硬度計(jì)、洛氏硬度計(jì)、地下管道尋線儀,埋地管道防腐層探測(cè)檢漏儀、粗糙度儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、測(cè)振儀、紅外測(cè)溫儀、超聲波探傷儀等近百種產(chǎn)品;公司代理英國(guó)易高、英國(guó)雷迪、美國(guó)華瑞等十多余大類三百多種國(guó)內(nèi)外知名品牌儀器儀表產(chǎn)品。
我司主營(yíng)經(jīng)營(yíng)：地下管線探測(cè)儀，防腐層探測(cè)檢漏儀、里氏硬度計(jì)、洛氏硬度計(jì)、粗糙度儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、測(cè)振儀、紅外測(cè)溫儀、超聲波探傷儀等近百種產(chǎn)品；公司代理英國(guó)易高、英國(guó)雷迪、美國(guó)華瑞等十多余大類三百多種國(guó)內(nèi)外知名品牌儀器儀表產(chǎn)品。
銷售區(qū)域：
北京，天津，重慶，四川，成都，山西，太原，遼寧，沈陽(yáng)，吉林，長(zhǎng)春，黑龍江，哈爾濱，江蘇，南京，浙江，杭州，安徽，合肥，福建，福州，江西，南昌，山東，河南，鄭州，湖北，武漢，十堰，湖南，長(zhǎng)沙，廣東，廣州，深圳，廣西，南寧，海南，海口，貴州，貴陽(yáng)，云南，昆明，西藏，拉薩，陜西，西安，甘肅，蘭州，青海，西寧，寧夏，銀川，新疆，烏魯木齊，濟(jì)南，青島，淄博，棗莊，東營(yíng)，煙臺(tái)，濰坊，濟(jì)寧，泰安，威海，日照，萊蕪，臨沂，德州，聊城,濱州，菏澤
MTSY-8型陶瓷磚厚度測(cè)量?jī)x
MTSY-8型陶瓷磚厚度測(cè)量?jī)x
用于測(cè)量普通量具無(wú)法測(cè)量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器，也可用于測(cè)量其它材料（如大理石板材、石膏板材等）產(chǎn)品厚度的測(cè)量。該測(cè)厚儀采用百分表進(jìn)行測(cè)量，具有度高、讀數(shù)、操作簡(jiǎn)便、攜帶方便等優(yōu)點(diǎn)，是有關(guān)生產(chǎn)廠家與質(zhì)檢單位的良好儀器。
技術(shù)參數(shù)
1.測(cè)厚儀的度：±0.1mm
2.測(cè)厚儀的測(cè)量范圍：
| 規(guī) 格 | 測(cè)量范圍（長(zhǎng)×寬） | 測(cè)量厚度 |
| CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
| CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
MTSY-8型陶瓷磚厚度測(cè)量?jī)x
用于測(cè)量普通量具無(wú)法測(cè)量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器，也可用于測(cè)量其它材料（如大理石板材、石膏板材等）產(chǎn)品厚度的測(cè)量。該測(cè)厚儀采用百分表進(jìn)行測(cè)量，具有度高、讀數(shù)、操作簡(jiǎn)便、攜帶方便等優(yōu)點(diǎn)，是有關(guān)生產(chǎn)廠家與質(zhì)檢單位的良好儀器。
技術(shù)參數(shù)
1.測(cè)厚儀的度：±0.1mm
2.測(cè)厚儀的測(cè)量范圍：
| 規(guī) 格 | 測(cè)量范圍（長(zhǎng)×寬） | 測(cè)量厚度 |
| CHD-1000 | 1000×1000mm | 25 mm |
| CHD-600 | 600×600 mm | 18 mm |
STF-110X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)xSTF-110
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鍍層厚度測(cè)量?jī)x
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