光學測量儀產品及廠家
電線電纜測量投影儀，絕緣護套測量儀是一種光、機、電一體化的精密高效光學計量儀器，適用于以二坐標測量為目的的一切應用領域,機械、電子、儀表、塑膠等行業廣泛使用，符合gb/t2951.1《電纜絕緣和護套材料通用方法》標準要求。
更新時間:2025-04-03
機械式輪廓測量投影儀參數，線纜絕緣厚度測量投影儀價格，電纜外被測量投影儀市場價格是一種光、機、電一體化的精密高效光學計量儀器。測量投影儀被廣泛應用于機械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時間:2025-04-03
影像測量儀參數，二次元影像測量儀的價格，二次元測量儀特點主要是彌補了傳統投影儀的不足，采用攝像機將待測物體拍攝成圖像，再傳輸到電腦，然后用專業的影像測量軟件，便能高效檢測各種復雜工件的輪廓、表面形狀尺寸、角度及位置。
更新時間:2025-04-03
線纜檢測用投影儀，輪廓檢測投影儀，絕緣護套檢測投影儀被測工件y置于工作臺上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實像y′(倒像)并經光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新時間:2025-04-03
工業測量投影儀是一種光、機、電一體化的精密高效光學計量儀器。測量投影儀被廣泛應用于機械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時間:2025-04-03
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更新時間:2025-04-03
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更新時間:2025-04-03
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更新時間:2025-04-03
數碼管顯示處理器介紹1）點、線、圓、角度、距離、矩形和螺紋等圖形元素的測量、預置和構造2）座標擺正和座標平移，方便擺正工件，減少調整時間3）三軸的顯示值4）rs232輸出功能（可打。5）多種座標顯示方式，極座標和直角座標、inc座標和abs座標公制和英制6）對光柵尺可進行線性補償或區段線性補償7）z軸可接光柵尺或旋轉編碼器
更新時間:2025-04-03
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更新時間:2025-04-03
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更新時間:2025-04-03
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更新時間:2025-04-03
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更新時間:2025-04-03
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更新時間:2025-04-03
美az 總輻射度/太陽能吸收率(tesa)便攜式反射計 tesa 2000，根據astm e408測定熱發射率和空氣質量為零時的太陽吸收率(空間應用)。它緊湊，輕巧，堅固耐用，符合人體工程學設計，便于在野外或實驗室中使用。
更新時間:2025-04-03
日本rion氣體粒子計數器：kl-28b/28bf( 光散射法）,粒徑范圍（2個通道）：≥0.2μm， ≥0.5μm, 大粒子數濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）
更新時間:2025-04-03
日本rion 液體光學顆粒度儀：ks-16/16f ( 光散射法）, 大粒子數濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）, 粒徑范圍（5個通道）：≥0.1μm， ≥0.15μm ， ≥0.2μm ， ≥0.3μm, ≥0.5μm
更新時間:2025-04-03
日本rion 液體光學顆粒度儀：ks-17b ( 光散射法）,純水用，大粒子數濃度：100 000 顆/ml （誤差值低于5%），粒徑范圍（2個通道）：≥0.05μm， ≥0.1μm （4通道需工廠定制）
更新時間:2025-04-03
日本理音rion液體光學顆粒度儀ks-19f，寬廣的測試范圍，可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數據。
更新時間:2025-04-03
日本rion粒子計數器kc-24 ( 光散射法）,液體粒子計數器，可檢測從純水到氫氟酸各種各樣的液體。可測 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24
更新時間:2025-04-03
日本rion液體光學顆粒度儀ks-41a ( 光阻用），可檢測光阻產品、sog 等產品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍（4個通道，出廠默認）：≥0.15μm， ≥0.2μm ， ≥0.3μm ， ≥0.5μm
更新時間:2025-04-03
日本rion 液體光學顆粒度儀：ks-18f ( 光散射法）液體光學顆粒度儀 ks-18f寬廣的測試范圍，可測試 0.05~0.2um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數據。 可偵測到小粒徑 0.05um 的粒子
更新時間:2025-04-03
日本rion液體光學顆粒度儀ks-42a&42af ( 光散射法）,可測試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數據。
更新時間:2025-04-03
日本rion液體光學顆粒度儀ks-42b/42bf ( 光散射法）,寬廣的測試范圍，可測試 0.2~2.0um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數據。
更新時間:2025-04-03
日本rion液體光學顆粒度儀ks-42c ( 光散射法）,寬廣的測試范圍，可測試 0.5~20um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數據。
更新時間:2025-04-03
日本rion粒子計數器kc-01e ( 光散射法）,液體粒子計數器，測試粒徑（5個通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時間:2025-04-03
日本rion粒子計數器kc-03b ( 光散射法）,測試粒徑（5個通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時間:2025-04-03
lfa 467 hyperflash 閃射法導熱儀，自由選擇測試氣氛，優化結構設置與閃射光源，16位自動進樣器，高的測量效率，寬廣的溫度范圍，靈活配備冷卻系統，設計獨特，性能優異，配備氙燈光源的，高溫測試系統，寬廣的溫度范圍，真空密閉爐體，確保氣氛純凈，防止氧化，內置微型管式爐，更高的測量效率，高數據采集速率- 用于薄膜與高導熱材料的解決方案
更新時間:2025-04-03
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時間:2025-04-03
日本理學x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質量管理，可對應大規格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統
更新時間:2025-04-03
日本理學x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質量管理，可對應大規格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統
更新時間:2025-04-03
美國filmetrics 薄膜厚度測量系統f20，f30，f40，f50，f60，f3-xxt 系列，臺式薄膜厚度測量系統
更新時間:2025-04-03
美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求，更復雜元器件設計的新一代設備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產量,無需人員重復設置.
更新時間:2025-04-03
德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經在包括制藥，食品，農業和化學行業在內的所有行業的質量控制應用中得到了很好的應用。它為耗時的濕法化學方法和色譜技術提供了一種實用的替代方法。ft-nir無破壞性，不需要樣品制備或危險化學品，使其定量和定性分析快速可靠。
更新時間:2025-04-03
sentech ald實時監測儀是一種新型的光學診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時間內開發新工藝、實時研究ald循環中的反應機理是sentech ald實時監測儀的主要應用。
更新時間:2025-04-03
美國ogp光學式坐標測量儀 zip 250 ，5:1 accucentric 電動變焦透鏡，在每次放大變倍時自動校準，可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時間:2025-04-03
美associated 耐壓測試儀hypotmax 7710 ，是一款12 kvdc hipot測試儀，用于為電纜、電線、線束和電氣元件測試提供高直流輸出電壓。該產品非常易于使用，并為安全有效的測試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統。最后，該系統具有遠程安全聯鎖和數控電弧檢測系統。
更新時間:2025-04-03
montana 新型超精細多功能無液氦低溫光學恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環的制冷系統只需要極少量的氦氣即可讓系統達到極限低溫。系統具有超快降溫、超低震動和超高的溫度穩定性。全自動化的控制軟件，簡化了用戶的操作流程。
更新時間:2025-04-03
德國attocube磁共振顯微鏡/低溫強磁場磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無磁性材料制備的高數值孔徑（na）共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來滿足odmr實驗的需求。
更新時間:2025-04-03
sinton少子壽命測試儀wct-120，suns-voc，硅片少子壽命測試系統，采用了獨特的測量和分析技術，包括準穩定態光電導(qsspc)測量方法？伸`敏地反映單、多晶硅片的重金屬污染及陷阱效應,表面復合效應等缺陷情況。
更新時間:2025-04-03
日本rion液體光學顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍，可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數據。
更新時間:2025-04-03
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