光學(xué)測(cè)量?jī)x產(chǎn)品及廠家
sensol是sentech光伏產(chǎn)品組合中的自動(dòng)大面積掃描儀器。自動(dòng)表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol，可以監(jiān)測(cè)大型玻璃基板上的沉積過程的均勻性，從而可以顯著減少儀器維護(hù)后重新開始生產(chǎn)的時(shí)間。
更新時(shí)間:2025-04-22
senperc pv 是perc電池制造質(zhì)量控制的創(chuàng)新解決方案。senperc pv 測(cè)量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監(jiān)測(cè)沉積過程的穩(wěn)定性。由此，可以優(yōu)化維護(hù)時(shí)間間隔。
更新時(shí)間:2025-04-22
德國(guó)sentech光伏測(cè)量?jī)x器mdpspot，具有成本效益的臺(tái)式少子壽命測(cè)試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測(cè)量提供了一個(gè)測(cè)量點(diǎn)。 低成本桌面式壽命測(cè)量系統(tǒng)，用于手動(dòng)操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品。可選的手動(dòng)操作z軸用于厚度多達(dá)156毫米的樣品。標(biāo)準(zhǔn)軟件可輸出可視化的測(cè)量結(jié)果。
更新時(shí)間:2025-04-22
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng) rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測(cè)量是rt inline的設(shè)計(jì)特點(diǎn)。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作為內(nèi)部參考測(cè)量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進(jìn)行層沉積過程的在線監(jiān)測(cè)。軟件接口可用于與主機(jī)的數(shù)據(jù)通信。
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sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀是一種新型的光學(xué)診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長(zhǎng)速率，厚度，折射率)，在短時(shí)間內(nèi)開發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀的主要應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-04-22
德國(guó)optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀，用于測(cè)量管狀或平面太陽(yáng)能吸收涂層的定向熱發(fā)射度，其基礎(chǔ)是測(cè)量來自擴(kuò)展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時(shí)間:2025-04-22
德optosol-k3 太陽(yáng)能吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀，k3型發(fā)射率檢測(cè)儀由一個(gè)被加熱到70℃的發(fā)光體（作為熱輻射源）和三個(gè)對(duì)波長(zhǎng)在8-14μm范圍的光線敏感的探測(cè)器組成。 來自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內(nèi)。檢測(cè)器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測(cè)量的是由樣品反射回來的輻射。
更新時(shí)間:2025-04-22
optosol absorber control k1 太陽(yáng)能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測(cè)量?jī)x，
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trisol aaa美國(guó)oai標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)能模擬器，低成本，標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)模擬器提供高度準(zhǔn)直，均勻的光，幾乎任何材料或產(chǎn)品暴露在陽(yáng)光下長(zhǎng)時(shí)間或短時(shí)間的基本測(cè)試。根據(jù)配置，這些太陽(yáng)能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時(shí)間:2025-04-22
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國(guó)oai太陽(yáng)能模擬器，這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽(yáng)模擬器可以提供一個(gè)范圍的空氣質(zhì)量過濾器復(fù)制太陽(yáng)能模擬太陽(yáng)的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術(shù)可以使一個(gè)廣泛的接觸區(qū)域。
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美國(guó) d&s 發(fā)射率測(cè)量?jī)x ae1/rd1，是專門針對(duì)測(cè)量物體的輻射率設(shè)計(jì)的，ae1測(cè)量樣品最小直徑為2.25英寸（5.7cm）。可選附件ae-ad1和ae-ad3探測(cè)頭能使測(cè)量樣品最小直徑為1.0英（2.54cm），可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對(duì)小直徑圓柱形面樣品測(cè)量，可以測(cè)量平行放置的多個(gè)樣品。
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美國(guó)sonix 晶圓檢測(cè)設(shè)備 autowafe pro.為全自動(dòng)晶圓檢測(cè)設(shè)計(jì)的機(jī)型，主要應(yīng)用在bond wafer，mems 內(nèi)部空洞、離層檢測(cè)，tsv量測(cè)方面。
更新時(shí)間:2025-04-22
lfa 467 hyperflash 閃射法導(dǎo)熱儀，自由選擇測(cè)試氣氛，優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)置與閃射光源，16位自動(dòng)進(jìn)樣器，高的測(cè)量效率，寬廣的溫度范圍，靈活配備冷卻系統(tǒng)，設(shè)計(jì)獨(dú)特，性能優(yōu)異，配備氙燈光源的，高溫測(cè)試系統(tǒng)，寬廣的溫度范圍，真空密閉爐體，確保氣氛純凈，防止氧化，內(nèi)置微型管式爐，更高的測(cè)量效率，高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導(dǎo)熱材料的解決方案
更新時(shí)間:2025-04-22
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時(shí)間:2025-04-22
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無(wú)損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測(cè)角儀，用于氮化鎵（gan)質(zhì)量管理，可對(duì)應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-04-22
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無(wú)損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測(cè)角儀，用于氮化鎵（gan)質(zhì)量管理，可對(duì)應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-04-22
徠卡3d disto全自動(dòng)三維建筑測(cè)量?jī)x 突出優(yōu)點(diǎn):自動(dòng)整平，輕松設(shè)站±3°范圍內(nèi)自動(dòng)快速整平手簿控制，實(shí)時(shí)成圖所有操作通過手簿控制，機(jī)載程序豐富強(qiáng)大，且測(cè)量的同時(shí)手簿上會(huì)生成平面圖和立體圖遙控操作，省時(shí)省力無(wú)線連接讓你擺脫儀器有線的束縛，rm100紅外遙控器讓你雙手在投影過程中擁有更多自由大屏顯示，圖像測(cè)量大尺寸
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aoi可以置于生產(chǎn)線上的多個(gè)位置，但有三個(gè)位子是主要的：1、錫膏印刷之后。將aoi的檢測(cè)放在錫膏印刷機(jī)之后，這是個(gè)典型的放置位置，因?yàn)楹芏嗳毕菔怯捎阱a膏印刷的不良所造成的，如錫膏量不足可能會(huì)導(dǎo)致元件丟失或開路的原因。2、回流焊，將檢測(cè)設(shè)備放置于貼片后
更新時(shí)間:2025-04-22
影像測(cè)量?jī)x，二次元影像測(cè)量?jī)x，二次元測(cè)量?jī)x主要是彌補(bǔ)了傳統(tǒng)投影儀的不足，采用攝像機(jī)將待測(cè)物體拍攝成圖像，再傳輸?shù)诫娔X，然后用專業(yè)的影像測(cè)量軟件，便能高效檢測(cè)各種復(fù)雜工件的輪廓、表面形狀尺寸、角度及位置。
更新時(shí)間:2025-04-22
機(jī)械式輪廓測(cè)量投影儀參數(shù)，線纜絕緣厚度測(cè)量投影儀價(jià)格，電纜外被測(cè)量投影儀市場(chǎng)價(jià)格是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器。測(cè)量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測(cè)量投影儀高效率地檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2025-04-22
絕緣護(hù)套測(cè)量投影儀，電纜外被測(cè)量投影儀，300測(cè)量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器。測(cè)量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測(cè)量投影儀高效率地檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
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電線電纜測(cè)量投影儀，絕緣護(hù)套測(cè)量?jī)x是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器，適用于以二坐標(biāo)測(cè)量為目的的一切應(yīng)用領(lǐng)域,機(jī)械、電子、儀表、塑膠等行業(yè)廣泛使用，符合gb/t2951.1《電纜絕緣和護(hù)套材料通用方法》標(biāo)準(zhǔn)要求。
更新時(shí)間:2025-04-22
線纜絕緣層測(cè)量投影儀哪家好，輪廓測(cè)量投影儀的價(jià)格，絕緣護(hù)套檢測(cè)投影儀多少錢被測(cè)工件y置于工作臺(tái)上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實(shí)像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新時(shí)間:2025-04-22
線纜厚度分析測(cè)量投影儀，最新電纜外被測(cè)量投影儀價(jià)格，最實(shí)惠機(jī)械測(cè)量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器。測(cè)量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測(cè)量投影儀高效率地檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2025-04-22
低倍測(cè)量投影儀，線纜光學(xué)投影儀，數(shù)字式電纜測(cè)量投影儀被測(cè)工件y置于工作臺(tái)上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實(shí)像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新時(shí)間:2025-04-22
影像測(cè)量?jī)x參數(shù)，二次元影像測(cè)量?jī)x的價(jià)格，二次元測(cè)量?jī)x特點(diǎn)主要是彌補(bǔ)了傳統(tǒng)投影儀的不足，采用攝像機(jī)將待測(cè)物體拍攝成圖像，再傳輸?shù)诫娔X，然后用專業(yè)的影像測(cè)量軟件，便能高效檢測(cè)各種復(fù)雜工件的輪廓、表面形狀尺寸、角度及位置。
更新時(shí)間:2025-04-22
輪廓測(cè)量投影儀批發(fā)，電線電纜廠用投影儀，低價(jià)電纜外被測(cè)量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器。測(cè)量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測(cè)量投影儀高效率地檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
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數(shù)碼管顯示處理器介紹1）點(diǎn)、線、圓、角度、距離、矩形和螺紋等圖形元素的測(cè)量、預(yù)置和構(gòu)造2）座標(biāo)擺正和座標(biāo)平移，方便擺正工件，減少調(diào)整時(shí)間3）三軸的顯示值4）rs232輸出功能（可打印）5）多種座標(biāo)顯示方式，極座標(biāo)和直角座標(biāo)、inc座標(biāo)和abs座標(biāo)公制和英制6）對(duì)光柵尺可進(jìn)行線性補(bǔ)償或區(qū)段線性補(bǔ)償7）z軸可接光柵尺或旋轉(zhuǎn)編碼器
更新時(shí)間:2025-04-22
輪廓測(cè)量投影儀參數(shù)，哪里有測(cè)量線纜絕緣層投影儀，優(yōu)惠的測(cè)量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器。測(cè)量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測(cè)量投影儀高效率地檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
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線纜檢測(cè)用投影儀，輪廓檢測(cè)投影儀，絕緣護(hù)套檢測(cè)投影儀被測(cè)工件y置于工作臺(tái)上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實(shí)像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
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電線電纜測(cè)量數(shù)顯投影儀的詳細(xì)描述： 電線電纜測(cè)量數(shù)顯投影儀主要技術(shù)參數(shù)： 1）電線電纜測(cè)量數(shù)顯投影儀投影屏面徑：￠300mm，內(nèi)刻式米字線，永不磨損。 2）電線電纜測(cè)量數(shù)顯投影儀旋轉(zhuǎn)角度數(shù)顯顯示值：0.01°或者1′
更新時(shí)間:2025-04-22
絕緣護(hù)套測(cè)量投影儀，電纜外被測(cè)量投影儀，300測(cè)量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器。測(cè)量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測(cè)量投影儀高效率地檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2025-04-22
測(cè)量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量?jī)x器。測(cè)量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測(cè)量投影儀高效率地檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2025-04-22
micro-vu于1959年在美國(guó)加州成立，60余年來micro-vu的影像測(cè)量?jī)x在國(guó)際市場(chǎng)受到好的評(píng)價(jià)，是占有率高的高精度影像自動(dòng)測(cè)量?jī)x。
更新時(shí)間:2025-04-22
ns500中空玻璃空氣層厚度測(cè)量?jī)x測(cè)試原理是利用光學(xué)反射原理，可在玻璃的單側(cè)表面測(cè)量玻璃厚度，尤其適用于通用測(cè)量工具如刻度尺或卡尺等不能或不易操作的測(cè)量場(chǎng)合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃（中空玻璃）窗厚度的測(cè)量。對(duì)于空氣夾層玻璃的測(cè)量，還可以同時(shí)獲得兩層玻璃及中間空氣層的厚度。
更新時(shí)間:2025-04-21
ns550a眼鏡鏡片光學(xué)透過率儀的測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2025-04-21
ns365多波段透過率測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示
更新時(shí)間:2025-04-21
ns500中空玻璃測(cè)厚儀專用于測(cè)量單層玻璃，夾層玻璃（中空玻璃）和柱型玻璃管等的厚度。尤其適用于普通刻度尺或卡尺不能或不易操作的測(cè)量場(chǎng)合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃窗厚度的測(cè)量。對(duì)于中空玻璃厚度的測(cè)量，同時(shí)測(cè)得各層玻璃及中間空氣層的厚度。
更新時(shí)間:2025-04-21
ns550a臺(tái)式透光率儀 測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2025-04-21
ns12高精度透過率測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2025-04-21
ns10a防爆膜測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2025-04-21
ns13a光學(xué)透過率測(cè)量?jī)x的測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2025-04-21
ns550ir油墨透光率儀的測(cè)試原理是采用紅外850nm光源，紅外940nm光源和可見550nm光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2025-04-21
ns11太陽(yáng)膜透過率測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源，可見光源和紅外光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2025-04-21
ns530a汽車前擋玻璃透光率儀具有的三個(gè)獨(dú)立測(cè)試單元分別為紫外，紅外，和可見光，顯示值為紅外透過率值，紫外透過率值和可見光透過率值。
更新時(shí)間:2025-04-21
ns101汽車太陽(yáng)膜透光率測(cè)試儀高精度防爆膜測(cè)試儀建筑膜檢測(cè)儀器的測(cè)試原理是采用紫外光源,可見光源和紅外光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。大多數(shù)的太陽(yáng)膜,可見光標(biāo)注透過率指標(biāo),紅外線和紫外線標(biāo)注阻隔率指標(biāo),阻隔率=100%-透過率。ns101直接測(cè)量和顯示紫外線的阻隔率,紅外線的阻隔率和可見光透過率,
更新時(shí)間:2025-04-21
ns530a汽車前檔貼膜透光率測(cè)試儀具有三個(gè)獨(dú)立測(cè)試單元分別為紫外，紅外，和可見光，顯示值為紅外透過率值，紫外透過率值和可見光透過率值。
更新時(shí)間:2025-04-21
ns13a卡式便攜式透光率儀，透光率測(cè)試儀，透光率檢測(cè)儀，透光率計(jì)，透過率測(cè)試儀，玻璃透光率儀，鏡片透光率測(cè)試儀，眼鏡片透光率儀，透明材料透光率儀，涂料透光率儀，太陽(yáng)鏡片透光率測(cè)試儀
更新時(shí)間:2025-04-21
ns550h臺(tái)式光學(xué)透過率測(cè)試儀測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2025-04-21
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