rf鍍層測(cè)厚儀:俗稱x射線熒光測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀等;功能:精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度;應(yīng)用范圍:測(cè)量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測(cè)量范圍從22(ti)到92(u);5 層 (4 鍍層 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光譜定性分析;測(cè)試方法面符合 iso 3497, astm b568 和din 50987應(yīng)用
更新時(shí)間:2025-04-15