表面阻抗分析儀產品及廠家
絕緣材料表面/體積電阻率測試儀詳情介紹絕緣材料表面/體積電阻率測試儀是測量橡膠、塑膠、粉末、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、靜電產品、如靜電鞋、靜電塑料橡膠制品、計算機房靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-04-02
ft-303b型表面電阻率測試儀適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-04-02
四探針測試儀品牌@市場快訊采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表。
更新時間:2025-04-02
ft-336型四探針電阻率測試儀采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
更新時間:2025-04-02
智能炭塊電阻率測定儀，采用步進定位90度或120度旋轉測量系統,壓力傳感器配備彈性緩存夾緊樣品,pc軟件分析數據,可編輯報表生成,自動分析均值,偏差值等數據. 一體化設計結構.人性化模塊操作界面.
更新時間:2025-04-02
四點探針測試儀參照gb/t 1551、gb/t1552-1995，astm f84美國a.s.t.m 標準。the four-probe tester meets gb/t 1551, gb/t1552-1995, astm f84 u.s. a. s.t.m. standard.2）四探針法粉末測試平臺參照gbt308
更新時間:2025-04-02
粉末高阻測試儀,粉體阻抗分析儀 絕緣材料存在的狀態有固態規則形狀如（長方體，圓柱體等是固有形狀）及不規則狀態（如粉末狀,膏體狀，液態流動狀），目前對絕緣體材料的測試方法和測量方式基本上是采用三環電極結構測量規則形狀體，而不規則狀材料的測試較少，本機主要能滿足傳統的電阻測量外，還可以測試不規則狀態（如粉末狀,膏體狀，液態流動狀）材料的電阻和電阻率 粉末高阻測試儀,粉體阻抗分析儀
更新時間:2025-04-02
絕緣粉末電阻率測試儀， 電路結構采用集成電路及高精度芯片控制系統，滿足測試數據的高效采集和數據的讀取.自動量程轉換 絕緣粉末電阻率測試儀
更新時間:2025-04-02
ft-351高溫四探針電阻率測試系統 ，爐膛材料：采用復合陶瓷纖維材料，具有真空成型，高溫不掉粉的特征 usb通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數據 ft-351高溫四探針電阻率測試系統
更新時間:2025-04-02
四探針探頭批,發四探針臺 ， 采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數補償.高集成電路系統、恒流輸出；選配：pc軟件進行數據管理和處理.
更新時間:2025-04-02
智能型雙電測四探針測試儀，采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數補償.高集成電路系統、恒流輸出；選配：pc軟件進行數據管理和處理.
更新時間:2025-04-02
lx-9831電壓降測試系統 本系統電壓降和接觸電阻是車用電線束插接器在強電流電路和弱電流電路下電性能評定指標；在恒定電流狀態下，通過測試導線壓接和端子接觸區域的電壓降，還可以獲得接觸電阻數據；如果通過模擬環境試驗測試后的汽車用插接器再進行電壓降測試，數據能更真實反映產品本身的特性；適用于科研院所、企業研發、進料檢驗和質量中心等技術部門提供更加精準和可靠的數據保證 lx-9831電壓降測試系統
更新時間:2025-04-02
電線束插接器壓降測試系統批發,通過電流、電壓和時間，來檢測電線束插接器電壓降、接觸電阻和溫升變化關系，是汽車用插接器的主要電氣性能指標，它直接影響汽車各電氣設備的信號傳輸和電氣連接，以及電氣設備的工作穩定性和可靠性；不良的接觸電阻和壓降是汽車用插接器工作時產生溫升的主要原因。降低接觸電阻可有效控制溫升，從而提高插接器壽命和性能.
更新時間:2025-04-02
端子壓降測試系統,電線束壓降測試系統 本系統采用集成電路及高精度芯片控制，通過測量接觸電阻、電壓降及溫升等數據來檢測電線束插接器的電性能，恒流源供給更加穩定的輸出，大液晶顯示屏幕更加直觀，各類參數和功能設定通過薄膜面板實現，人性化設計符合人體工學原理，提供usb、232、485通訊接口；可以連接打印機、電腦和其他外接控制單元，配置pc軟件可以獲得更多過程數據，測試報表處理、存儲和數據分析有助于產
更新時間:2025-04-02
采用高精度恒流恒壓源，自動量程，無需手動調節和設定。大液晶屏幕顯示，所有測試數據和設定數據均可顯示，當選擇經濟型手動測量裝置匹配時能直觀的查看數據；如果在條件許可下可以選擇自動測量裝置將獲得更高精確的重復性數據和消除操作誤差帶來的不確定性。
更新時間:2025-04-02
隔熱導電膜四探針電阻率測試儀，本品為解決四探針法測試超高阻值材料方阻及電阻率，最大可以測試到1010ω方阻值，是目前同行業中能測量到的最大方阻值，此儀器是瑞柯新品，主要用于測超高阻。
更新時間:2025-04-02
本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2025-04-02
本品為解決四探針法測試超高阻值材料方阻及電阻率，最大可以測試到1010ω方阻值，是目前同行業中能測量到的最大方阻值，選購：本機還可以配合各類環境溫度試驗箱體使用，通過不同的測量治具滿足不同環境溫度下測量方阻和電阻率的需求.采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
更新時間:2025-04-02
液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2025-04-02
直流恒流源輸出系統結合集成電路及高精度芯片控制，大液晶顯示屏幕更加直觀，直讀電阻，電壓降，電阻率，高精度的測試量程；各類參數和功能設定通過薄膜面板實現，人性化設計符合人體工學原理，提供usb、232、485通訊接口；可以連接打印機、電腦和其他外接控制單元。
更新時間:2025-04-02
金屬薄膜四探針電阻率測試儀驗證流程,適用于覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試,電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料.
更新時間:2025-04-02
絕緣粉末/液體電阻率測試儀測定方法，絕緣材料存在的狀態有固態規則形狀如（長方體，圓柱體等是固有形狀）及不規則狀態（如粉末狀,膏體狀，液態流動狀），目前對絕緣體材料的測試方法和測量方式基本上是采用三環電極結構測量規則形狀體，而不規則狀材料的測試較少，本機主要能滿足傳統的電阻測量外，還可以測試不規則狀態。
更新時間:2025-04-02
糖粉粉末電阻率測試儀技術參數，功能介紹：本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試
更新時間:2025-04-02
石墨粉電阻率測試儀樣品檢測，功能介紹：本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治
更新時間:2025-04-02
粉末電阻率測試儀 本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試
更新時間:2025-04-02
塑料絕緣材料表面/體積電阻率測試儀現貨，概況：(1)適用標準：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》；en 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗方法和要求》
更新時間:2025-04-02
瑞柯導體粉末電阻率測試儀的的適用范圍 本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。
更新時間:2025-04-02
硅片高溫方阻測試儀 廣泛用于：生產企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ito）和其它導電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導率數據 硅片高溫方阻測試儀
更新時間:2025-04-02
浙江高溫四探針電阻率測試系統廠家直銷 液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表； 浙江高溫四探針電阻率測試系統廠家直銷
更新時間:2025-04-02
直流低電阻測試儀性能特點:5位led顯示，穩定性好。最小的分辨率：1μω直讀值與百分比誤差顯示、上超、下超、合格分選及訊響功能提供rs-232c接口及handler接口（選配）
更新時間:2025-04-02
智能粉末電阻率測試儀本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.使用薄膜按鍵開關面板，操作簡單，耐用，符合人體工學操作規范
更新時間:2025-04-02
四探針電阻測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-04-02
寧波半導體電阻率測試儀 按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準。
更新時間:2025-04-02
負極材料粉末電阻率測試儀 滿足：yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測方法 第6部分 粉末電阻率的測定；本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
更新時間:2025-04-02
導電材料電阻率測試儀采用四端測量法適用于生產企業、高等院校、科研部門，實驗室是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料之電阻率。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2025-04-02
多功能材料電阻率測試儀適用于生產企業、高等院校、科研部門，實驗室是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料之電阻率。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置
更新時間:2025-04-02
通用型粉末電阻率測試儀本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.使用薄膜按鍵開關面板，操作簡單，耐用，符合人體工學操作規范.
更新時間:2025-04-02
絕緣材料高溫表面和體積電阻率測試儀適用標準：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》；en 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗方法和要求》；gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（與國際標準iec93-1980等效）；fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》.
更新時間:2025-04-02
導體材料高溫電阻率測試儀廣泛用于：生產企業、高等院校、科研部門對導體材料在高溫下電阻率數據的測量.同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.
更新時間:2025-04-02
材料低電阻率測試儀滿足標準： gb/t6717、gb/t 24525-2009、ys/t63.2、 iso 11713-2000、ys/t63.2-2005、ys/t 64-1993。gb3048.2-2007、gb/t3048.4-2007、gb/t3952-2008、gb/t3953-2009、gb/t3954-2008、gb/t3955-2009、gb/t3956-2008.
更新時間:2025-04-02
雙電測電四探針測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2025-04-02
四探針方阻儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準，本機配置232電腦接口及usb兩種接口.
更新時間:2025-04-02
方塊電阻測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準.
更新時間:2025-04-02
薄膜方阻測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-04-02
數字式四探針測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2025-04-02
自動導體粉末電阻率測試儀采用一體化結構設計，將粉末比電阻的測量與粉體電阻率/電導率分析為一體，測量與數據分析通過pc軟件完成，粉體壓強與電阻值、電阻率、電導率值的變化關系
更新時間:2025-04-02
雙電測電四探針電阻率測試儀本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2025-04-02
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