手持式X熒光光譜儀SPECTRO xSORT |
詳細介紹: |
斯派克公司在實驗室X熒光光譜儀方面,在此基礎上又開發出了堅固輕便的手持式SPECTRO xSORT熒光光譜儀,用于現場金屬材料的分析和分選。 ![]() | ![]() SPECTRO xSORT 配有可充電電池和保護套。儀器不用時可放在隨儀器提供的皮套內,并可背在身上。 |
蘇州綠頓電子科技有限公司是深圳天瑞儀器有限公司在華東地區的公公司,總部在美國。本公司主要生產和銷售X熒光光譜儀EDX3000,它是ROHS指令的精密檢測儀器,精確度可達1PPM。 X熒光光譜儀ROHS指令檢測主要技術指標: 一.基本性能指標1.元素分析范圍從鉀(K)到鈾(U);2.元素含量分析范圍為1 PPm到99.99%;3.測量時間:60-200秒;4.元素分析檢出限達1PPm;5.多次測量重復性可達0.1%;6.工作穩定性為0.1%;7.能量分辨率為165EV;8.溫度適應范圍為15℃至26℃;9.電源:交流220V±5V;(建議配置交流凈化穩壓電源。)10.相互獨立的基體效應校正模型;11.多變量非線性回收程序;12.任意多個可選擇的分析和識別模型;13.一次可同時分析24個元素。二.鍍層厚度分析指標1.無損、精確、快速測量各種電鍍層的厚度;2.膜厚分析精度:0.01um—0.05um;3.極小的測定面積,可達0.1mm*0.1mm;4.中間鍍膜及素材的成份對測量值不產生影響;5.同時且互不干擾的測量上層及中間鍍膜;6.電鍍層可以是鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍錫、鍍鋅等;7.可測量二元合金、三元合金等的鍍膜厚及成份;8.可分析10層以上的鍍層;9.簡捷、明了的測厚分析軟件界面;10.可分析電鍍溶液中的金屬離子濃度。三.歐盟ROHS指令分析指標1.無損、精確、快速測量各種塑料、電子元器件、電器、金屬、溶液等物件里面的有毒有害元素;2.對鎘(Cd)、鉛(Pb)、鉻(Cr)、溴(Br)、汞(Hg)的檢出限達1PPm;3.簡捷、明了、便利的軟件操作界面。四.元素含量分析指標1.無損、精確、快速測量各種樣品中各元素的含量;2.一次可同時分析樣品中的24個元素;3.應用在化學工業、鋼鐵、水泥、陶瓷、電子、環保、食品、造紙、石油、煤炭、有色金屬等領域的研發和品質管理(生產控制);4.樣品的狀態可以是固體、液體、粉體。
主要特點
1 儀器尺寸 630mm*440mm*380mm 2 測量樣品室 400mm*260mm*110mm 3 重 量 約 40Kg 4 適宜溫度 5-30 ℃ 5 相對濕度 ≤ 80% 6 元素分析范圍 鉀 (K) 到鈾 (U) 7 含量分析范圍 為 2 PPm 到 100000 ppm 8 測量時間 60-300 秒 ( 任意調整 ) 9 分辨率 149 -- 186 eV FWHM @ 5.9 KeV 10 電源 交流 220V ± 5V 或 110V ± 5V 11 電源頻率 47-63 Hz 12 高壓輸入 +24V dc+- 10% , 4.0 A (最大) 13 高壓輸出 0 -50KV @ 1mA 最大功率 50W
UX-300系列特點直接生成人性化分析報告全封閉鉛板雙迷宮防輻措施全球領先的微區分析功能可分析從NA到U所有元素不需制樣,快速無損分析直接檢測六價鉻(Cr6+)國家質量監督檢驗檢疫總局SN/T2003.1-2005文件指定方法國家GBZ115-2002防輻射標準技術參數:型 號 / 規 格 UX300 華唯計量 1.分析范圍:PPM~99,99% 2.測量元素:從鉀至鈾全元素 3.測量對象:固體、液體、粉末 4.分辨率: 150±10ev 5.單次測量時間:60-180秒(真實時間) 6.工作溫度:15~35。C 7.工作濕度:≤70% 8.電源:AC220V 配 置 1.硅針半導體探測器2.高壓系統3.X光管4.全自動準直濾光系統5.樣品定位系統(ccd)6.六價鉻測試杯7.微區分析系統(選配)8.標準樣品9.北大方正電腦主機及EPSON打印機聯系方式
廣東深圳南山西麗湖工貿科技園電話:0755-83242373 29838631傳真:0755-83242367 29838631
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我們誠摯的邀請您到公司參觀訪問,檢測樣品,或是來電咨詢、索取資料。我們期待您的光臨!XR-306 X射線熒光能譜儀是北京邦鑫偉業技術開發有限公司集成了當今世界X射線熒光能譜分析領域領先的技術和公司科技人員深厚的理論基礎、豐富的實踐經驗,為應對歐盟RoHS指令量身定做的一款快速分析儀器,經過實踐中的不斷完善,性能可以滿足電子行 |
業檢測限用物質的要求。整機結構合理、緊湊,每個部件都經過精心的選擇和設計,經久耐用,性能,是電子行業成功應對歐盟RoHS指令和《中國電子信息產品污染物管理辦法》的利器。 技術規格 * 檢測塑膠類樣品和輕質金屬材料中的Pb、Cd、Hg、總Br和總Cr檢出限達到5ppm。* 檢測Fe、Ni、Cu、Zn及其合金以及焊錫中的Pb、Cr等成份檢出限可以達到100ppm, Cd的檢出限可以達到20ppm。 儀器配置 * 儀器核心部件采用美國Amptek公司生產的X-123系統,集成了Si-PIN高分辨率半導體X射線探測器、高性能放大和整形電路、數字脈沖處理器以及脈沖高度分析器即MCA,最大限度地發揮探測器的性能。* X射線管高壓發生器采用美國Spellman公司生產的50W高壓電源,性能指標,為儀器的運行提供了保障。*采用專業廠家生產的薄鈹窗X射線管,功率達50W,專業化封裝,輻射安全和各項性能指標滿足應用要求。* 配置多種經過精心設計的濾光片,使得XR-306型X射線熒光能譜儀不僅分析塑膠材料中的有害物質時可以達到非常高的精度,同時,分析金屬材料中的Pb和Cd等有害物質也可以達到很好的精度。*濾光片自動轉換讓操作人員無需掌握深入的理論即可進行的測量。* 推拉式開蓋方式結合開放式樣品腔設計地解決了超大樣品的檢測問題,做到小樣品測試安全方便,大樣品測試只要按系統提示操作同樣能操作人員安全。*精心設計的應用程序不僅可以使用戶方便的檢測,還提供非常漂亮的檢測報告,對用戶開放報告格式定制功能,無論何種格式的報告都可以定制。此外還提供了數據輸出到Excel表格的功能,方便用戶進行統計分析。*高清晰度攝像頭的設置不僅使檢測報告圖文并茂,結合所配備的多孔徑準直器還可以對不均勻樣品進行定點檢測。* 開放式的軟件設計,出廠前已配置了常用材料的分析方法,用戶經過培訓以后也可以建立自己的分析方法,拓展儀器的使用范圍,如其他微量元素的分析和鍍層測厚。測試譜圖
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